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日本電子JSM-IT500 掃描電子顯微鏡

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日本電子JSM-IT500 掃描電子顯微鏡

詳細(xì)介紹

JSM-IT500是JEOL InTouchScope系列的新機(jī)型。
從設(shè)定視野到生成報(bào)告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業(yè)速度！是一款無(wú)縫操作，使用更加方便的掃描電子顯微鏡。

掃描電子顯微鏡JSM-IT500 InTouchScope™的特點(diǎn)及功能介紹：

3個(gè)關(guān)鍵點(diǎn) 使日常分析更迅速！更簡(jiǎn)便！

圖片1.jpg

①關(guān)鍵點(diǎn)1 Zeromag
從樣品座圖形和CCD圖像上可以尋找視野和分析位置。尋找視野非常輕松，多視野連續(xù)分析的位置也很容易。

②關(guān)鍵點(diǎn)2 實(shí)時(shí)分析 (于A/LA)
在圖像觀察過(guò)程中，進(jìn)行EDS分析。
EDS譜圖顯示在觀察窗口中，如果給感興趣的元素加上alert ，會(huì)更容易發(fā)現(xiàn)。

③關(guān)鍵點(diǎn)3 數(shù)據(jù)集中管理軟件
數(shù)據(jù)的查看、再分析以及從SEM圖像到EDS分析的全部數(shù)據(jù)報(bào)告可以一鍵生成。用數(shù)據(jù)管理圖標(biāo)或者從測(cè)試結(jié)束的數(shù)據(jù)列表中啟動(dòng)數(shù)據(jù)管理窗口并選擇數(shù)據(jù)，一鍵就能生成報(bào)告。

關(guān)鍵點(diǎn)1 Zeromag ～將大視野光學(xué)CCD圖像和SEM圖像結(jié)合～

直到高倍率觀察的順利操作！

光學(xué)CCD圖像和SEM圖像的結(jié)合和無(wú)縫操作使工作效率大大提高

圖片2.jpg

利用Zeromag能簡(jiǎn)便自動(dòng)地進(jìn)行大區(qū)域觀察和EDS分析

圖片3.jpg

利用Zeromag設(shè)置蒙太奇

圖片4.jpg 圖片5.jpg

蒙太奇結(jié)果 4×4 （左：背散射電子成份像右：Ca元素面分布圖）
樣品：混凝土加速電壓：15kV 高真空模式拍攝區(qū)域：約4mm×3mm

利用Zeromag很容易設(shè)定大面積的蒙太奇區(qū)域，有利于成像和觀察。蒙太奇功能在斷裂分析和大區(qū)域中識(shí)別異物等從大面積區(qū)域上獲取詳細(xì)信息時(shí)非常有效。

關(guān)鍵點(diǎn)2 實(shí)時(shí)分析～SEM和EDS一體化集成～

利用Live Analysis功能，可在觀察窗口中進(jìn)行被觀察區(qū)域的EDS分析?？梢匀菀椎卣业阶约焊信d趣的元素，還能發(fā)現(xiàn)意料之外的元素。

圖片6.jpg

①顯示存在于測(cè)試區(qū)域中的主元素。能元素并顯示“Alert"。

②會(huì)顯示分析區(qū)域的特征X射線譜圖和自動(dòng)定性分析結(jié)果。

③一鍵點(diǎn)擊就可以在電鏡操作界面和詳細(xì)分析顯示界面間切換。

關(guān)鍵點(diǎn)3 數(shù)據(jù)集中管理軟件SMILE VIEW™ Lab～無(wú)縫創(chuàng)建報(bào)告?

SMILE VIEW™ Lab是能集中管理與樣品臺(tái)位置聯(lián)動(dòng)的CCD圖像、SEM圖像、EDS分析結(jié)果等數(shù)據(jù)并快速生成報(bào)告的數(shù)據(jù)管理器。查看以前獲得的數(shù)據(jù)、重新分析，生成報(bào)告等都能簡(jiǎn)便地進(jìn)行。

①顯示各個(gè)視野的名稱。

圖片7.jpg