FEI 掃描電子顯微鏡Apreo 材料科學(xué)應(yīng)用

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更新時間：2023-11-30 13:16:17瀏覽次數(shù)：282次

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產(chǎn)品簡介

FEI 掃描電子顯微鏡Apreo 材料科學(xué)應(yīng)用

詳細介紹

Apreo 材料科學(xué)應(yīng)用

功能豐富的高性能 SEM

Apreo 革命性的復(fù)合透鏡設(shè)計結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù)，可產(chǎn)生的高分辨率和信號選擇。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，并且不會降低磁性樣品性能。

Apreo 受益于的透鏡內(nèi)背散射探測，這種探測提供的材料對比度，即使在傾斜、工作距離很短或用于敏感樣品時也不例外。新型復(fù)合透鏡通過能量過濾進一步提高了對比度并增加了用于絕緣樣品成像的電荷過濾?？蛇x低真空模式現(xiàn)在的樣品倉壓力為 500 Pa，可以對要求最嚴苛的絕緣體進行成像。

通過這些優(yōu)勢（包括復(fù)合末級透鏡、高級探測和靈活樣品處理），Apreo 可提供出色的性能和多功能性，幫助您應(yīng)對未來的研究難題。

體驗 Apreo SEM 帶來的優(yōu)勢

的復(fù)合末級透鏡可在任何樣品（即使在傾斜時或進行地形測量時）上提供優(yōu)異的分辨率（1 kV 電壓下為 1.0 nm），而無需進行電子束減速。
作用極大的背散射探測 - 始終保證良好的材料對比度，即使以低電壓和電子束電流并以任何傾斜角度對電子束敏感樣品進行 TV 速率成像時也不例外。
無比靈活的探測器 - 可將各個探測器部分提供的信息相結(jié)合，獲得至關(guān)重要的對比度或信號強度。
各種各樣的電荷緩解策略，包括樣品倉壓力為 500 Pa 的低真空模式，可實現(xiàn)任何樣品的成像。
的分析平臺提供高電子束電流，而且光斑很小。樣品倉支持三個 EDS 探測器、共面的 EDS 和 EBSD 以及針對分析進行了優(yōu)化的低真空系統(tǒng)。
樣品處理和導(dǎo)航極其簡單，具有多用途樣品支架和 Nav-Cam+。
通過高級用戶指導(dǎo)、預(yù)設(shè)和撤消功能為新用戶提供專家級結(jié)果。