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工業(yè)用高加速壽命老化試驗箱HAST，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓...

BiasHAST半導(dǎo)體芯片BiasHAST測試，B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、...

BiasHAST偏壓老化測試系統(tǒng)，適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產(chǎn)品...

半導(dǎo)體芯片BiasHAST測試PCB老化試驗箱，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫...

芯片動態(tài)老化測試系統(tǒng)，高低溫在線測試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測試專用設(shè)備。能使用戶在高低溫條件下對半導(dǎo)體分立器件、光耦、...

芯片 老化測試系統(tǒng)Small Burn-in Tester，高低溫在線測試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測試專用設(shè)備。能使用戶...

Small Burn-in Tester芯片動態(tài)老化測試系統(tǒng)，高低溫在線測試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測試專用設(shè)備。能使用...

電阻 器件溫度系數(shù)測試系統(tǒng)，電阻溫度系數(shù)測量系統(tǒng)是依據(jù)測試行業(yè)規(guī)范，集環(huán)境試驗參數(shù)控制、電阻性能測試、保護評估控制于一體，可按照國際標(biāo)準規(guī)定的環(huán)境條件下對試驗樣...

器件溫度系數(shù)測試系統(tǒng)，電阻溫度系數(shù)測量系統(tǒng)是依據(jù)測試行業(yè)規(guī)范，集環(huán)境試驗參數(shù)控制、電阻性能測試、保護評估控制于一體，可按照國際標(biāo)準規(guī)定的環(huán)境條件下對試驗樣品進行...

半導(dǎo)體冷熱測試一體機 循環(huán)制冷機chiller ，應(yīng)用與半導(dǎo)體生產(chǎn)過程中及測試環(huán)節(jié)的溫度控制，具有溫度穩(wěn)定性高、溫度范圍廣、故障診斷、外部通信等豐富功能的裝置。...

半導(dǎo)體冷水機低溫冰水機ChillerZL系列，主要應(yīng)用與半導(dǎo)體生產(chǎn)過程中及測試環(huán)節(jié)的溫度控制，具有溫度穩(wěn)定性高、溫度范圍廣、故障診斷、外部通信等豐富功能的裝置。...

zonglen半導(dǎo)體專用溫控裝置Chiller ZL系列，主要應(yīng)用與半導(dǎo)體生產(chǎn)過程中及測試環(huán)節(jié)的溫度控制，具有溫度穩(wěn)定性高、溫度范圍廣、故障診斷、外部通信等豐富...