一、產(chǎn)品概述：

該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。

二、功能與特點：

一、結(jié)構(gòu)特點

1.箱體內(nèi)膽采用不銹鋼板制成，外殼采用進口SUS油發(fā)紋板式寶鋼鋼板噴涂。
2.控制系統(tǒng)：*高精密數(shù)顯儀表，進口執(zhí)行元器件。
3.箱內(nèi)密封條采用耐高式低溫的硅橡膠制成，密封保溫性能優(yōu)良。
4.*的制冷系統(tǒng)。
5.多種安全保護裝置。

二、符合標準

GB 10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件
GB 10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB 11158-89高溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備
GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法
GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法
GB2424.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則

三、技術(shù)參數(shù)：