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蘇州瑞周電子科技有限公司
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光譜掃描范圍：600nm~1700nm最小光譜分辨率：20pm產品綜述6362D光譜分析儀（簡稱：光譜儀）是一款高分辨、大動態(tài)高速高性能光譜分析儀，適用于600～1700nm光譜范圍的DWDM、光放大器等光系統(tǒng)測試；LED、FP-LD、DFB-LD、光收發(fā)器等光有源器件測試；光纖、光纖光柵等光無源器件測試
光譜掃描范圍： 600nm~1700nm
最小光譜分辨率： 20pm產品綜述6362D光譜分析儀（簡稱：光譜儀）是一款高分辨、大動態(tài)高速高性能光譜分析儀，適用于600～1700nm光譜范圍的DWDM、光放大器等光系統(tǒng)測試； LED、FP-LD、DFB-LD、光收發(fā)器等光有源器件測試；光纖、光纖光柵等光無源器件測試。
主要特點● 20pm最小光譜分辨率
● 600～1700nm光譜掃描范圍
● 78dB大動態(tài)范圍
● -90dBm靈敏度
● 支持空間光輸入
● 內置光源輸出配置可選
● 強大的多應用光譜數據分析功能
● 12.1英寸觸控顯示、全中文操作20pm最小分辨率6362D光譜分析儀（光譜儀）支持不同光譜分辨率的設置，多種光譜分辨率設置靈活切換，最小光譜分辨率優(yōu)于20pm。峰值檢索6362D光譜分析儀（光譜儀）采用擁有自主知識產權的光譜自適應峰值檢索算法，峰值檢索準確度高，自適應性和魯棒性強，且運算速度快。單縱模激光光譜分析6362D光譜分析儀（光譜儀）具備多場景光譜分析功能，針對DFB-LD等單縱模激光光源，儀器提供閾值分析和邊模抑制比分析兩種分析方法，有效準確的評估單縱模待測光源的中心波長、光譜帶寬和邊模抑制比。多縱模激光光譜分析
針對FP-LD等多縱模激光光源，6362D光譜分析儀（光譜儀）提供ndB損耗分析、包絡分析和均方根分析三種分析方法，多維度全面評估多縱模待測光源的中心波長和光譜帶寬。多種光電子器件應用分析功能6362D光譜分析儀（光譜儀）可以對LED、FP-LD、DFB-LD、LD模塊等各類型激光器進行一鍵測試與分析，實現所有測試項目批處理。
除半導體激光光源光譜測量應用外，儀器還集成了光纖偏振模色散測量應用、波分復用應用、光纖放大器應用、波分復用濾波器應用、波分復用光纖放大器應用等光譜應用功能，下圖是典型的波分復用應用分析。
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