HONEYWELL 測厚儀QCS系統(tǒng)上定量膜

HONEYWELL 測厚儀QCS系統(tǒng)上定量膜

超聲波測厚儀超聲波在各種介質(zhì)中的聲速是不同的，但在同一介質(zhì)中聲速是一常數(shù)。超聲波在介質(zhì)中傳播遇到第二種介質(zhì)時(shí)會(huì)被反射，測量超聲波脈沖從發(fā)射至接收的間隔時(shí)間，即可將這間隔時(shí)間換算成厚度。在電力工業(yè)中應(yīng)用廣的就是這類測厚儀。常用于測定鍋爐鍋筒、受熱面管子、管道等的厚度，也用于校核工件結(jié)構(gòu)尺寸等。這類測厚儀多是攜帶式的，體積與小型半導(dǎo)體收音機(jī)相近，厚度值的顯示多是數(shù)字式的。對于鋼材，測定厚度達(dá)2000 mm左右，精度在±0.01～±0.1 mm之間。

磁性測厚儀在測定各種導(dǎo)磁材料的磁阻時(shí)，測定值會(huì)因其表面非導(dǎo)磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測知覆蓋層厚度值。常用于測定鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層、磷化層、油漆層等的厚度。

渦流測厚儀當(dāng)載有高頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時(shí)，由于高頻磁場的作用而使金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，此渦流產(chǎn)生的磁場又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離（即覆蓋層的厚度）有關(guān)，因而根據(jù)探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁、銅表面上其他絕緣覆蓋層的厚度。

HONEYWELLQCS系統(tǒng)6580801300CPU模組

HONEYWELLQCS系統(tǒng)00155400上定量膜

HONEYWELLQCS系統(tǒng)00305301發(fā)射頭窗口膜

HONEYWELLQCS系統(tǒng)6542620082二極管綠燈泡

HONEYWELLQCS系統(tǒng)6542620083二極管紅燈泡

HONEYWELLQCS系統(tǒng)05355311前置放大板

HONEYWELLQCS系統(tǒng)05406700燈絲電流板

HONEYWELLQCS系統(tǒng)05410000高壓電源板