深圳冷熱沖擊試驗箱
環(huán)境條件對 電氣部件、 設(shè)備和裝置的功能性和可靠性有著重要的影響。為了 能在*短的時間內(nèi)發(fā)現(xiàn)潛在的缺陷，通常只靠常規(guī)的溫度檢測是不夠的；樣品 必須多次被施加 劇烈的溫度變化。使用我們的LAB COMPANION深圳冷熱沖擊試驗箱實現(xiàn) –80 °C 至 +220 °C 范圍內(nèi)的極快速溫度切換。由此， 您可以降低早期失效風(fēng)險并提升您產(chǎn)品的 可靠性。可再生、經(jīng)認(rèn)證并且經(jīng)久耐用。
Lab Companion空氣間熱沖擊試驗箱（深圳冷熱沖擊試驗箱系列），水平或垂直試驗箱帶有兩個空間，分別適用2種不同的溫度的沖擊箱（高溫、常溫和低溫）。有60，120和300升可選。也可以根據(jù)客戶需求定制更大容積的沖擊試驗箱。該系列根據(jù)客戶場地和不同的試驗需求分為水平結(jié)構(gòu)、垂直結(jié)構(gòu)以及三箱式，該系列具備提供客戶一箱多用功能，可以滿足GJB150.5-2009中的兩種試驗方法。
深圳冷熱沖擊試驗箱系列空氣介質(zhì)垂直傳動熱沖擊試驗箱
雙溫區(qū)，單吊籃， (- 2) （一熱區(qū)和一冷區(qū)） 試件位于一個吊籃中，傳送于冷、熱區(qū)之間。 雙溫區(qū)，雙吊籃，雙倍功效（-2D） （雙熱區(qū)和一冷區(qū)） 冷區(qū)一直工作，提高設(shè)備使用效率。
深圳冷熱沖擊試驗箱系列空氣介質(zhì)水平傳動沖擊箱
雙溫區(qū)，單吊籃（-2） （一熱區(qū)和一冷區(qū)） 試件位于一個吊籃中，水平傳送于冷、熱區(qū)之間。 雙溫區(qū)，雙吊籃，雙倍功效（-2D） （雙熱區(qū)和一冷區(qū)） 雙吊籃帶來雙倍的負(fù)載測試能力；由于冷區(qū)一直工作，從而提高了設(shè)備使用效率。 三溫區(qū)，單吊籃 （-3 ） (一冷區(qū)、一常溫區(qū)和一熱區(qū)) 試件位于一個吊籃中，水平傳動于冷區(qū)和常溫區(qū)之間，熱區(qū)自行移動覆蓋位于常溫區(qū)內(nèi)吊籃。
沖擊溫度范圍：-70℃~+150℃
溫度恢復(fù)時間：≤ 5min
轉(zhuǎn)換時間：≤10s
溫度均勻性：≤2℃
溫度偏差： ±2℃
溫度波動度：≤±0.5℃
型號說明
深圳冷熱沖擊試驗箱 產(chǎn)品系列號 300 工作室容積（單位：L）
2C 結(jié)構(gòu)方式：2C表示兩箱式
3C結(jié)構(gòu)方式：S表示三箱式 -40表示溫度沖擊范圍: 40：*低-40℃；55：*低-55℃；65：*低-65℃
產(chǎn)品特點：
· 部件溫度考核時間保證功能，僅當(dāng)被測試件達(dá)到設(shè)定溫度時才進(jìn)行吊籃傳送
· 提供額外的熱能，有效滿足MIL-STD 833H要求
· 進(jìn)/回風(fēng)空氣溫度控制選擇開關(guān)
· 每個溫區(qū)都有儲能構(gòu)件，以用于加熱和制冷的峰值需求
· 使用無損臭氧層的綠色環(huán)保制冷劑
安全性 :
· 電子聯(lián)動安全門鎖（開門停機(jī)聯(lián)動）
· 電子機(jī)械吊籃鎖定裝置（吊籃鎖定裝置）
· 傳送報警裝置
· 原廠設(shè)定設(shè)備超溫保護(hù)
· 當(dāng)箱門打開時，吊籃自動停止傳送
· 緊急停機(jī)按鈕
· 試驗超溫保護(hù)功能（熱區(qū)）
· 意外開門保護(hù)開關(guān)
· 冷區(qū)的氮氣噴射系統(tǒng)可以*大化地減少冷區(qū)蒸發(fā)器結(jié)霜，提高試驗箱使用效率
主要標(biāo)準(zhǔn)
1 根據(jù)IEC 60068-3-5。通過選擇提升/降低熱箱/冷箱溫度來提高溫度變化速率。
2 有效測試空間中心點。
3 基于設(shè)置點；溫度范圍 –65 °C to +200 °C。
4 MIL-STD-883 E，方法 1010.9，強(qiáng)度級 D ，4.5 kg ICs 分布于2個樣品架內(nèi)，樣品內(nèi)測量。
5 MIL-STD-883 J，方法 1010.9，強(qiáng)度級 D，12 kg ICs 分布于3個樣品架內(nèi)，樣品內(nèi)測量。
6 MIL-STD-883 F，方法 1010.9，強(qiáng)度級 D，20 kg ICs 分布于3個樣品架內(nèi)，樣品內(nèi)測量。
7 MIL-STD-883 J，方法 1010.9，強(qiáng)度級 F，25 kg ICs 分布于3個樣品架內(nèi)，樣品內(nèi)測量。
8 MIL-STD-883 F，方法 1010.9，強(qiáng)度級 F，50 kg ICs 分布于3個樣品架內(nèi)，樣品內(nèi)測量。
