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XY/DRL-III導熱系數(shù)測試儀（熱流法）
一、 XY/DRL-III導熱系數(shù)測試儀 概述
主要測試薄的熱導體、固體電絕緣材料、導熱硅脂、樹脂、橡膠、氧化鈹瓷、氧化鋁瓷等材料的熱阻以及固體界面處的接觸熱阻和材料的導熱系數(shù)。檢測材料為固態(tài)片狀，加圍框可檢測粉狀態(tài)材料及膏狀材料。
主要測試薄的熱導體、固體電絕緣材料、導熱硅脂、樹脂、橡膠、氧化鈹瓷、氧化鋁瓷等材料的熱阻以及固體界面處的接觸熱阻和材料的導熱系數(shù)。檢測材料為固態(tài)片狀，加圍框可檢測粉狀態(tài)材料及膏狀材料。
儀器參考標準：MIL-I-49456A（絕緣片材、導熱樹脂、熱導玻纖增強）；GB 5598-85（氧化鈹瓷導熱系數(shù)測定方法）；ASTM D5470-2006（薄的熱導性固體電絕緣材料傳熱性能的測試標準）等。
特點：帶自動加壓，自動測厚裝置，并連計算機實現(xiàn)全自動控制。儀器采用6點溫度梯度檢測，提高了測試精度。可檢測不同壓力下熱阻曲線，采用優(yōu)化的數(shù)學模型，可測量材料導熱系數(shù)和熱阻以及界面處接觸熱阻等多個參數(shù)。
廣泛應(yīng)用在高等院校，科研單位，質(zhì)檢部門和生產(chǎn)廠的材料導熱分析檢測。
主要技術(shù)參數(shù)
1、試樣大小：≤Φ30mm
2、試樣厚度：0.02-20mm
3、熱極控溫范圍：室溫-350.00℃,控溫精度0.01℃
4、冷極控溫范圍：0-99.00℃,控溫精度0.01℃
5、導熱系數(shù)測試范圍：0.01～50W/m*k,1～300W/m*k
6、熱阻測試范圍：0.05～0.000005m2*K/W
7、壓力測量范圍：0～1000N
8、位移測量范圍：0～30.00mm
9、測試精度：優(yōu)于3%
10、試樣可在真空狀態(tài)下試驗,確保測試環(huán)境及精度，真空度0.1MPa.
11、實驗方式：a、試樣不同壓力下熱阻測試。b、材料導熱系數(shù)測試。c、接觸熱阻測試。
12、計算機全自動測試，并實現(xiàn)數(shù)據(jù)打印輸出。
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