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詳細(xì)摘要： 識(shí)別卡彎曲扭轉(zhuǎn)測(cè)試儀?用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

詳細(xì)摘要： ICTR-9999 IC卡動(dòng)態(tài)彎扭測(cè)試機(jī)用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

詳細(xì)摘要： 液晶數(shù)顯IC卡彎扭試驗(yàn)機(jī)本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)...

詳細(xì)摘要： 電子標(biāo)簽彎扭試驗(yàn)機(jī)本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)...

詳細(xì)摘要： IC卡彎扭試驗(yàn)機(jī)本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)...

詳細(xì)摘要： 電子標(biāo)簽彎扭試驗(yàn)機(jī)本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)...

詳細(xì)摘要： 智能卡彎曲扭曲測(cè)試機(jī)本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試...

詳細(xì)摘要： IC卡芯片檢測(cè)設(shè)備 本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試...

詳細(xì)摘要： IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī) 本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等...