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廣州高測(cè)儀器有限公司

主營(yíng)產(chǎn)品: 掃描電鏡,直讀光譜儀,尼通手持式光譜儀,進(jìn)口測(cè)汞儀

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公司信息

聯(lián)人:
洪生
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廣州市天河區(qū)燕嶺路燕僑大廈211室
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http://www.hg0881.cn/st154654/
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光學(xué)輪廓儀NPFLEX3D
光學(xué)輪廓儀NPFLEX3D
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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào)
  • 品牌
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 廣州市

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更新時(shí)間:2024-10-01 12:29:42瀏覽次數(shù):154

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【簡(jiǎn)單介紹】
NPFLEX 三維表面測(cè)量系統(tǒng)針對(duì)大樣品設(shè)計(jì)的非接觸測(cè)試分析系統(tǒng)靈活測(cè)量大尺寸、特殊角度的樣品高效的三維表面信息測(cè)量垂直方向亞納米分辨率提供更多的細(xì)節(jié)快速獲取測(cè)量數(shù)據(jù)
【詳細(xì)說(shuō)明】

NPFLEX 三維表面測(cè)量系統(tǒng)

針對(duì)大樣品設(shè)計(jì)的非接觸測(cè)試分析系統(tǒng)
活測(cè)量大尺寸、特殊角度的樣品
高效的三維表面信息測(cè)量
直方向亞納米分辨率提供更多的細(xì)節(jié)
快速獲取測(cè)量數(shù)據(jù),測(cè)試過(guò)程迅速高效

NPFLEX 為大尺寸工件精密加工提供準(zhǔn)確測(cè)量
布魯克的NPFLEXTM 3D表面測(cè)量系統(tǒng)為精密制造業(yè)帶來(lái)的檢測(cè)能力,實(shí)現(xiàn)更快的測(cè)量時(shí)間,提高了產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)力?;诎坠飧缮娴脑?,這套非接觸系統(tǒng)提供的技術(shù)性能超出了傳統(tǒng)的的接觸式坐標(biāo)測(cè)量?jī)x(CMM)和工業(yè)級(jí)探針式輪廓儀的測(cè)量技術(shù)。測(cè)量?jī)?yōu)勢(shì)包括獲得高分辨的三維圖像,進(jìn)行快速豐富的數(shù)據(jù)采集,幫助用戶更深入地了解部件的性能和功能。積累幾十年的干涉技術(shù)和大樣本的儀器設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn),NPFLEXTM是個(gè)可以靈活地測(cè)量大尺寸樣品的光學(xué)測(cè)量系統(tǒng),而且能夠高效快捷地獲得從微觀到宏觀等不同方面的樣品信息。

其靈活性表現(xiàn)在可用于測(cè)量表征更大的面型和更難測(cè)的角度樣品
  • 創(chuàng)新性的空間設(shè)計(jì)使得可測(cè)零件(樣品)更大、形狀更多
  • 開(kāi)放式龍門(mén)、客戶定制的夾具和可選的搖擺測(cè)量頭可輕松測(cè)量想測(cè)部位


高效的三維表面信息測(cè)量

  • 每次測(cè)量均可獲得完整表面信息,并可用于多種分析目的
  • 更容易獲得更多的測(cè)量數(shù)據(jù)來(lái)幫助分析


垂直方向亞納米分辨率提供更多的細(xì)節(jié)

  • 干涉技術(shù)實(shí)現(xiàn)每一個(gè)測(cè)量象素點(diǎn)上的亞納米級(jí)別垂直分辨率
  • 工業(yè)界使用多年業(yè)已驗(yàn)證的干涉技術(shù)提供具有統(tǒng)計(jì)意義的數(shù)據(jù),為日漸苛刻的加工工藝提供保障

測(cè)量數(shù)據(jù)的快速獲取保證了測(cè)試的迅速和高效

  • 最少的樣品準(zhǔn)備時(shí)間和測(cè)量準(zhǔn)備時(shí)間
  • 比接觸法測(cè)量(一條線)更大的視場(chǎng)(一個(gè)面)獲得表面更多的數(shù)據(jù)
 為客戶量身訂做最合適的儀器配置  NPFLEX在基本配置的基礎(chǔ)上,還有很多備選的配件和配置方案, 滿足不同客戶的測(cè)量需求: ?  可選的搖擺測(cè)量頭可輕松測(cè)量想測(cè)的樣品部位,測(cè)量樣品的側(cè)壁、傾斜表面以及斜面邊緣,重復(fù)性好。 ?  獲得研發(fā)大獎(jiǎng)的透過(guò)透明介質(zhì)測(cè)量模塊(Through Transmissive Media,TTM)模塊,,結(jié)合環(huán)境測(cè)試腔,可以穿透5cm厚的色散材料,可對(duì)樣品進(jìn)行加熱或者冷卻,進(jìn)行原位測(cè)量。 ?  可選的折疊鏡頭能夠測(cè)量碗狀樣品的側(cè)壁和底部孔洞。  納米級(jí)分辨率的三維表面信息測(cè)量 大家對(duì)很多樣品的表面性質(zhì)感興趣,但是要獲得這些品性質(zhì),需要檢測(cè)大量的樣品表面定量信息。許多應(yīng)用在航空航 天,汽車,醫(yī)療植入產(chǎn)業(yè)的大尺寸樣品,往往只能借助于二維接觸式檢測(cè)工具進(jìn)行表征,獲得的只是一條線測(cè)量數(shù)據(jù)。二維掃描能夠提供樣品的表面輪廓,但是無(wú)法深入研究樣品表面更精確的紋理細(xì)節(jié)信息。NPFLEX測(cè)試系統(tǒng)采用白光干涉原理,在每一個(gè)測(cè)量點(diǎn)可以實(shí)現(xiàn)表面形貌的三維信息收集,且具有亞納米級(jí)的垂直分辨率。所收集的數(shù)據(jù)不受探針曲率半徑的局限,高效的三維表面信息測(cè)量可獲取除表面粗糙度以外的多種分析結(jié)果,更多的測(cè)量數(shù)據(jù)來(lái)幫助分析樣品性質(zhì)。   快速獲取數(shù)據(jù),保證測(cè)試迅速高效 NPFLEX三維測(cè)量系統(tǒng),能夠靈活高效的獲取大量測(cè)試數(shù)據(jù)。大大縮短了樣品制備時(shí)間和測(cè)量方案設(shè)置時(shí)間

 




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