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摘要：霍尼韋爾測厚儀QCS系統(tǒng)HONEYWELL測厚儀（thickness gauge ）是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工...

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摘要：QNix4200和QNix4500這兩種型號一體化/分體化設(shè)計，只需調(diào)零，無需校準(zhǔn)，使用簡單。QNix4500為磁性和渦...

摘要：CMI250涂鍍層測厚儀包括工廠和用戶雙重校準(zhǔn)、自動溫度補(bǔ)償、基線校正、測量存儲選項(xiàng)、日期和時間自行設(shè)定、統(tǒng)計分析和US...

摘要： 德國BYK byko-test 8500干膜測厚儀

摘要：CMI153小型緊湊、堅(jiān)固耐用、用途廣泛，可單手操作并配有皮帶夾，該CMI153?設(shè)計便攜耐用，使其能在苛刻條件下正常使...

摘要：CMI233是具有臺式測厚儀性能的手持式測厚儀。CMI233測厚儀是高科技電子技術(shù)和軟件的組合，緊湊、耐用的設(shè)計，適用于...

摘要：QNix7500涂鍍層測厚儀一體分體通用，可通過更換探頭來滿足不同的測量需求。探頭可直接與主機(jī)連接，進(jìn)行一體化測量，也可...

摘要：QNIX1200?采用一體化設(shè)計，只需調(diào)零，無需校準(zhǔn)，使用簡單?？梢杂脕頊y量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層。操作簡單，攜...

摘要：與小型企業(yè)、工業(yè)和服務(wù)業(yè)用戶緊密合作，尼克斯開發(fā)了新一代模塊化測量系統(tǒng)-QNix8500。QNix 8500可以準(zhǔn)確測量...

摘要：測厚儀適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。了解詳細(xì)信息，敬請致電，本信息由...

摘要：薄膜測厚儀適用于塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。符合GB/T 6672、GB/T 451...

摘要：byk - gardner的新byko -test MPOR是專門為測量非常薄的涂料而設(shè)計的。其具有磁感應(yīng)Fe和NFe探...

摘要：QNix 4200 涂層測厚儀只需調(diào)零，無需校準(zhǔn)，使用簡單。QNix®4200（含 QNix®4200、...

摘要： 德國BYK byko-test 4200/4500干膜測厚儀

摘要：SR-SCOPE RMP30-S銅板測厚儀該便攜式設(shè)備采用 4 點(diǎn)電阻法，十分適合測量多層電路板上薄鍍層的厚度。這種電路...

摘要： 德國菲希爾FISCHERSCOPE MMS PC2多功能測厚儀

摘要：MiniTest3100測厚儀是一種用于非破壞性測量涂層厚度的小型通用儀器。 ElektroPhysik涂層測厚儀多年來...

摘要：GalvanoTest是基于庫侖原理測量涂層厚度的設(shè)備，幾乎可用于所有電鍍單層或多層涂層。 鉻，鎳，鎘，銅，黃銅，銀，金...

摘要：新的 Elcometer 456 涂層測厚儀掃描探頭 , 不僅允許檢查員在 不損壞探頭或涂層的情況下 , 將探頭在整個表...

摘要：一次測量的質(zhì)量，主要由幾個關(guān)鍵因素決定。包括：選擇適當(dāng)?shù)奶筋^和探頭本身的質(zhì)量等。 Helmut FischerGmbH為...

摘要：德國EPK(Elektrophysik)公司庫侖GalvanoTest3000,應(yīng)用庫侖電量分析原理。其過程類似于電鍍,...

摘要：MiniTest725/MiniTest735/MiniTest745涂層測厚儀不僅有多達(dá)100,000個讀數(shù)的大容量內(nèi)...

摘要：MiniTest 7400涂層測厚儀，帶有多種可選可更換的外部傳感器。圖形顯示可直接顯示統(tǒng)計值，趨勢圖，直方圖和簡化的用...

摘要：MiniTest 4100涂層測厚儀根據(jù)所使用的探頭類型，可以根據(jù)磁感應(yīng)原理或渦流原理工作。 如果連接了雙探頭，Mini...

摘要：DELTASCOPE FMP10機(jī)型適用于測量鐵基體上的非鐵磁性金屬涂鍍層厚度,例如：鉻、銅、鋅以及涂料、油漆、搪瓷和塑...