1、適用于電子零部件、半導體、電子線路板、金屬材料等行業(yè)測試。2、試驗箱下部為低溫區(qū)，上部為高溫區(qū)，底件放置在試驗箱中部，高溫沖擊時上風門打開，形成高溫內(nèi)循環(huán)。低溫沖擊時，上風門關(guān)閉，下風門打開，形成低