詳細介紹
關(guān)鍵詞:薄膜厚度測量儀,薄膜厚度測定儀,薄膜測厚儀,薄膜厚度檢測儀
Labthink蘭光高精度薄膜厚度測量儀CHY-C2A采用機械接觸式測量方式,嚴格符合標(biāo)準(zhǔn)要求,有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
高精度薄膜厚度測量儀CHY-C2A技術(shù)指標(biāo)
負荷量程:0 ~ 2 mm(常規(guī))
0 ~ 6 mm;12 mm (可選)
分辨率:0.1 μm
測量速度:10 次/min (可調(diào))
測量壓力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(紙張)
接觸面積:50 mm2(薄膜);200 mm2(紙張)
注:薄膜、紙張任選一種;非標(biāo)可定制
電源:AC 220V 50Hz
外形尺寸:461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)
凈重:32kg
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):
ISO 4593、 ISO 534、 ISO 3034、 GB/T 6672、 GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、 ASTM D1777、 TAPPI T411、 JIS K6250、 JIS K6783、 JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
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