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東莞市柳沁檢測儀器有限公司
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產品特點： 溫度沖擊老化實驗測試箱提供溫度瞬間變化環(huán)境，供用戶對整機（或部件）、電器、儀器、材料等作溫度試驗，以便考核試品的適應性或對試品的行為作出評價。暴露產品的缺陷，是新產品研制、樣機試驗、產品合格鑒定試驗全過程的重要試驗手段。
溫度沖擊老化實驗測試箱提供溫度瞬間變化環(huán)境，供用戶對整機（或部件）、電器、儀器、材料等作溫度試驗，以便考核試品的適應性或對試品的行為作出評價。暴露產品的缺陷，是新產品研制、樣機試驗、產品合格鑒定試驗全過程的重要試驗手段。
溫度沖擊老化實驗測試箱分為高溫室、低溫室、測試室三部分,采之斷熱結構及蓄熱蓄冷效果,試驗時待測物靜止，應用冷熱風路切換方式將冷、熱溫度導入測試區(qū)實現冷熱沖擊測試目的。
可選擇的容積有如下：
50L內箱尺寸為360x350x400(WxHxD)MM外尺寸以實物尺寸為準。
80L內箱尺寸為500x400x400(WxHxD)MM外尺寸以實物尺寸為準。
150L內箱尺寸為600x500x500(WxHxD)MM外尺寸以實物尺寸為準。
250L內箱尺寸為700x600x600(WxHxD)MM外尺寸以實物尺寸為準。
512L內箱尺寸為800x800x800(WxHxD)MM外尺寸以實物尺寸為準。
1000L內箱尺寸為1000x1000x1000(WxHxD)MM外尺寸以實物尺寸為準。
滿足以下標準：
GB/T2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A：低溫。
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B: 高溫。
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件。
GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件。
GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件。
GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則。
GB/T5170.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備。
GB2424.1 電工電子產品環(huán)境試驗 高低溫試驗導則。
GB/T2423.22-1989溫度變化試驗。
GB/T 2423.22-2002溫度變化。
GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則。
GJB150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分高溫試驗。
GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗。
GJB 150.5A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗。
GJB367.2-1987 通信設備通用技術條件 環(huán)境試驗方法。
GJB360.7-87溫度沖擊試驗。
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗。
IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化。
EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。
QC/T 17-1992 汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則 汽車行業(yè)標標準等等包括其它產品行業(yè)標準。
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