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氣流儀高低溫沖擊設(shè)備ThermoTST，是一臺精密的高低溫沖擊氣流儀，具有更GUAN泛的溫度范圍-80℃到+225℃，提供了很強(qiáng)的溫度轉(zhuǎn)換測試能力。

接觸式芯片高低溫測試設(shè)備氣流儀FlexTC維修，接觸式高低溫設(shè)備是以色列Mechanical Devices公司研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備，通過測試頭與...

桌面接觸式高低溫沖擊設(shè)備 ATC840，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現(xiàn)能量傳遞，與傳統(tǒng)氣流...

高低溫氣流溫度沖擊系統(tǒng) ThermoTST TS780，是一臺精密的高低溫沖擊氣流儀，具有更GUAN泛的溫度范圍-80℃到+225℃，提供了很強(qiáng)的溫度轉(zhuǎn)換測試能...

高低溫沖擊搭配Keysight功率器件測試方案，，高低溫沖擊氣流儀TS系列+TCU800P高溫?zé)崤_搭配是德B1500系列功率分析儀進(jìn)行功率器件高低溫測試。

搭配Keysight功率器件測試方案高低溫沖擊 ，，高低溫沖擊氣流儀TS系列+TCU800P高溫?zé)崤_搭配是德B1500系列功率分析儀進(jìn)行功率器件高低溫測試。

ATC系列 zonglen桌面型高低溫沖擊熱流儀，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對芯片可靠性測試的專用設(shè)備，通過測試頭與待測器件直接貼合的方式實現(xiàn)能量傳遞，...

冷熱沖擊試驗箱 導(dǎo)通電阻測試系統(tǒng)方案，本系統(tǒng)針對 PCB 通路電阻測試中阻值低、測試精度高的要求，克服了手工測量過程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問題，實現(xiàn)了對...

冷熱沖擊試驗箱 導(dǎo)通電阻測試系統(tǒng)方案，本系統(tǒng)針對 PCB 通路電阻測試中阻值低、測試精度高的要求，克服了手工測量過程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問題，實現(xiàn)了對...

絕緣電阻劣化評估系統(tǒng) HAST試驗箱，絕緣電阻劣化（離子遷移）測試系統(tǒng)搭配HAST高加速老化試驗箱，可高精度連續(xù)監(jiān)測，快捷評估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻...

HAST高加速壽命試驗箱，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條...

HAST高加速應(yīng)力試驗系統(tǒng)加速高溫高濕偏壓，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、...

PCB離子遷移測試 試驗箱，PCB離子遷移，簡稱CAF。離子遷移是指在印刷電路板等產(chǎn)品上，由于離子化金屬向相反電極移動，在相對電極還原成原來的金屬并有析出的現(xiàn)象...

高加速老化HAST箱HAST測試機(jī)Burn-in Oven，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)...

HAST測試機(jī)Burn-in Chamber老化測試試驗箱，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)...

半導(dǎo)體芯片HAST測試高加速老化測試機(jī)，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度...

IGBT-HAST試驗箱 高加速老化測試機(jī)，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、...

Espec日本愛思佩克高加速老化HAST維修服務(wù)，它通過模擬產(chǎn)品在長時間使用過程中可能遇到的各種環(huán)境條件和應(yīng)力，如極低的溫度、振動和電壓等，以測試產(chǎn)品的可靠性和...

導(dǎo)通電阻測試系統(tǒng) HAST試驗箱，導(dǎo)通電阻測試系統(tǒng)可與zonglen HAST高加速老化試驗箱配合使用，主要用于產(chǎn)品導(dǎo)通電阻性能驗證。更好的保證您PCB檢測的精...

CAF測試系統(tǒng) HAST高加速壽命試驗箱，CAF是指印制線路板內(nèi)部在電場作用下跨越非金屬基材而遷移傳輸?shù)膶?dǎo)電性金屬鹽構(gòu)成的電化學(xué)遷移。它通常發(fā)生在印制線路板基材...