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聯(lián)系我時(shí),請告知來自 食品機(jī)械設(shè)備網(wǎng)●用途根據(jù)您的要求,可在ANALYSETTE22MicroTecplus(它涵蓋了典型的測量任務(wù)的較寬測量范圍0.08-2000微米),或者ANALYSETTE22NanoTecplus(可測量到納米范圍的精密儀器)之間進(jìn)行選擇
● 用途
根據(jù)您的要求,可在ANALYSETTE 22 MicroTec plus(它涵蓋了典型的測量任務(wù)的較寬測量范圍0.08-2000 微米),或者ANALYSETTE 22 NanoTec plus(可測量到納米范圍的精密儀器)之間進(jìn)行選擇。
通過在第三個(gè)激光束測量向后散射光,以量測細(xì)小顆粒的精度和靈敏度。
● 特性
- 較寬的測量范圍 : 0.01 – 2000 µm
- 適用于通用程序的兩種模式 : MicroTec plus (0.08 – 2000 µm)、NanoTec plus (0.01 –2000 µm)
- 測量時(shí)間短 : ANALYSETTE22可以在一分鐘以內(nèi)完成測量,并可以緊接著準(zhǔn)備第二次的測量。
- 測量準(zhǔn)度高 : NanoTec plus每次檢測都使用檢測通道進(jìn)行檢測,這些通道每 41微秒(24 kHz)檢測一次。結(jié)合多個(gè)測量位置,測量通道多達(dá) 110 個(gè)。
- 跨時(shí)代雙激光技術(shù) : 在緊湊的單元內(nèi)大大的增加測量精度以及分辨率。
- 便利的模塊設(shè)計(jì) : 每個(gè)ANALYSETEE22 均由一個(gè)緊湊的測量裝置組成,使其可以易于跟干法濕法測量各個(gè)分散儀組合。
- 便利的開關(guān)系統(tǒng) : 可通過改變包含著顆粒測量單元的卡盤很快地切換。
- 自動測量分析 : 可將結(jié)果直接顯示在屏幕上。當(dāng)然,您也可以將其打印出來或加以儲存
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