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上海太易檢測技術有限公司


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粉狀顆粒物下落式喉式金屬檢測機

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參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產品型號IMD-IIS-P系列

品       牌其他品牌

廠商性質生產商

所  在  地上海市

聯(lián)系方式:太易小助手查看聯(lián)系方式

更新時間:2021-12-03 15:03:45瀏覽次數(shù):649次

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經營模式:生產廠家

商鋪產品:26條

所在地區(qū):上海上海市

聯(lián)系人:太易小助手 (售前)

產品簡介
波長范圍 / 產地類別 國產
功能類型 多功能(多種項目檢測) 價格區(qū)間 0-1萬
檢測時間 / 檢測通道 /
適用范圍 多種樣品通用型 重復性 /

粉狀顆粒物下落式喉式金屬檢測機針對粉狀、顆粒物中的金屬異物進行檢測和剔除。
采用翻板式剔除,提升產能增加生產效率。
多種規(guī)格的探頭可供選配使用,是顆粒物生產線上*的檢測設備。
優(yōu)化了主板電路參數(shù),相比之前精度與穩(wěn)定性都有明顯提升。

詳細介紹

●上海太易粉狀顆粒物下落式喉式金屬檢測機針對粉狀、顆粒物中的金屬異物進行檢測和剔除。
粉狀顆粒物下落式喉式金屬檢測機采用翻板式剔除,提升產能增加生產效率。
●多種規(guī)格的探頭可供選配使用,是顆粒物生產線上*的檢測設備。
●優(yōu)化了主板電路參數(shù),相比之前精度與穩(wěn)定性都有明顯提升。


●上海太易粉狀顆粒物下落式喉式金屬檢測機針對粉狀、顆粒物中的金屬異物進行檢測和剔除。
粉狀顆粒物下落式喉式金屬檢測機采用翻板式剔除,提升產能增加生產效率。
●多種規(guī)格的探頭可供選配使用,是顆粒物生產線上*的檢測設備。
●優(yōu)化了主板電路參數(shù),相比之前精度與穩(wěn)定性都有明顯提升。


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