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罐內(nèi)涂膜完整性測定儀 詳細(xì)摘要： 罐內(nèi)涂膜完整性測定儀比之前的型號能更快地測出金屬暴露，改良的電子設(shè)計，測量更靈敏、更可靠、更精確，分度0.01mA。
產(chǎn)品型號： 所在地：濟(jì)南市 更新時間：2019-05-31 參考價： 面議 在線留言
| 濟(jì)南光大儀器儀表有限公司 |
詳細(xì)摘要： 罐內(nèi)涂膜完整性測定儀比之前的型號能更快地測出金屬暴露，改良的電子設(shè)計，測量更靈敏、更可靠、更精確，分度0.01mA。
產(chǎn)品型號： 所在地：濟(jì)南市 更新時間：2019-05-31 參考價： 面議 在線留言