詳細介紹
半導(dǎo)體用全氟O型圈,墊片,異形件唇密封壓力試樣的實驗程序
當(dāng)唇已被分離到規(guī)定的距離時,關(guān)閉試驗機,并記錄產(chǎn)生這一開度所需的作用力。
按以上重復(fù)操做,直到每種類型的四個試樣試驗完成為止。
每個試驗溝槽的唇密封壓力按式計算:
P_LS=F/L
式中:P_LS——唇密封壓力 N/m;F——把試樣的唇部張開到規(guī)定距離所需的力,N;L——試樣長度(精確到0.002m),m。
注:對于模壓拐角試樣,L是從拐角外側(cè)測定的長度
半導(dǎo)體用全氟O型圈,異形件,雜件應(yīng)符合下列實驗要求
2) 泄漏。無連續(xù)不斷的液體從密封件漏出,至少檢查兩次,履職上不應(yīng)出現(xiàn)因吸收液體而產(chǎn)生的變色。
3) 腐蝕?;钊透左w的內(nèi)腔不應(yīng)出現(xiàn)腐蝕,列如肉眼可見的蝕損斑,但允許有輕微發(fā)暗或變色
4) 硬度變化。按實驗程序中的規(guī)定進行試驗,密封件的硬度下降不應(yīng)超過15卲爾。
5) 實驗密封件的狀態(tài)。密封件不應(yīng)有過度的損壞,如劃痕,磨蝕,氣泡,裂紋、缺角(跟部磨損)或變形