FT-330系列普通四探針方阻電阻率測試儀按照硅片電阻率測量的國際標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)，本機配置232電腦接口及USB兩種接口，本機結(jié)合采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差，比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測量，更加準(zhǔn)確.本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購. 規(guī)格型號FT-331FT-332FT-333FT-334FT-335FT-3361.方塊電阻范圍10-4～2×105Ω/□10-4～2×103Ω/□10-3～2×105Ω/□10-3～2×103Ω/□10-2～2×105Ω/□10-2～2×103Ω/□2.電阻率范圍10-5×106cm10-5×104-cm10-4～2×106Ω-cm10-4～2×104-cm10-3～2×106Ω-cm10-3～2×104-cm3.測試電流范圍0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA4.電流精度±0.1%讀數(shù)±0.2%讀數(shù)±0.2%讀數(shù)±0.3%讀數(shù)±0.3%讀數(shù)±0.3%讀數(shù)5.電阻精度≤0.3%≤0.3%≤0.3%≤0.5%≤0.5%≤0.5%6.顯示讀數(shù)液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率7.測試方式普通單電測量8.工作電源輸入: AC 220V±10% 50Hz 功耗：<30W 9.整機不確定性誤差≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）10.選購功能選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺