詳細介紹
CH-1-ST測厚儀、薄膜測厚儀簡單介紹:
本測厚議適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度(不適用于壓花的薄膜和薄片)。本測厚儀執(zhí)行GB-T6672-2001標準。
CH-1-ST測厚儀、薄膜測厚儀基本參數(shù):
量限:0-1mm
分度值:0.001mm
上測頭曲率半徑:15-50mm
測頭對試樣施加負荷:0.1-0.5N
測量精度: 100vm以內(nèi) <1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm
執(zhí)行標準:GB6672-86
本測厚儀適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度(不適用于壓花的薄膜和薄片).
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