采用*的芯片集成技術(shù)，專業(yè)設(shè)計的數(shù)據(jù)采集放大和控制系統(tǒng)，試驗力、變形的放大、A/D轉(zhuǎn)換過程實現(xiàn)了雙顯控制和顯示的全數(shù)字化調(diào)整。