用途：該試驗(yàn)箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗(yàn)前的老化加速壽命時(shí)間試驗(yàn);半導(dǎo)體、被動(dòng)組件、零件接腳氧化試驗(yàn)。