1、適用于電子零部件、半導(dǎo)體、電子線路板、金屬材料等行業(yè)測(cè)試。2、試驗(yàn)箱下部為低溫區(qū)，上部為高溫區(qū)，底件放置在試驗(yàn)箱中部，高溫沖擊時(shí)上風(fēng)門打開(kāi)，形成高溫內(nèi)循環(huán)。低溫沖擊時(shí)，上風(fēng)門關(guān)閉，下風(fēng)門打開(kāi)，形成低