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賽特TSI3330美國TSI光學(xué)顆粒物粒徑譜儀圖片

2017-09-14 16:53:54603

參考價(jià):	面議

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面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

進(jìn)入商鋪在線詢價(jià)

圖片描述：

3330光學(xué)顆粒物粒徑譜儀（OPS）是一款輕型便攜式裝置，它采用單粒子計(jì)數(shù)技術(shù)，能夠提供快速精確的粒子濃度和粒徑分布檢測。賽特TSI3330美國TSI光學(xué)顆粒物粒徑譜儀

圖片來源：

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