二探針單晶硅及多晶硅測試儀型號：TC-GL-1本儀器主要用于測量大直徑的單晶硅和多晶硅的電阻率分布情況，以便硅材料的切割和加工。為適應大規(guī)模集成電路的迅猛發(fā)展，特別是計算機芯片、內存的發(fā)展，越來越多的使用到了大直徑、高純度、均勻度更高的單晶硅材料。目前，在美國、德國等的工業(yè)，均采用了二探針法，使用二探針檢測儀來測量大直徑單晶硅的電阻率分布情況。