1三目正置金相顯微鏡53X特點(diǎn)和應(yīng)用方向本款三目正置金相顯微鏡53X適用于薄片試樣的金相、礦相、巖相、晶體等結(jié)構(gòu)分析和鑒別，也可用于材料表面的某些特征（劃痕、裂紋、噴涂的均勻性），紡織纖維、化學(xué)顆粒等方面的研究