設(shè)備面向標(biāo)簽各種常見缺陷，通過多工位架構(gòu)，分別針對(duì)各種缺陷設(shè)計(jì)光學(xué)結(jié)構(gòu)進(jìn)行檢測(cè)。設(shè)備采用同工異步觸發(fā)模式，對(duì)標(biāo)簽從6個(gè)視角分別觀測(cè)，保障360度無盲區(qū)檢測(cè)；采用正背光結(jié)合拍攝方式，使標(biāo)簽及其缺陷特征顯現(xiàn)；