中圖儀器NS系列半導(dǎo)體臺(tái)階高度測(cè)量?jī)x器是一款專(zhuān)為高精度微觀形貌測(cè)量設(shè)計(jì)的超精密接觸式儀器,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光伏、MEMS、光學(xué)加工等領(lǐng)域。通過(guò)2μm金剛石探針與LVDC傳感器的協(xié)同工作,結(jié)合亞埃級(jí)分辨率(5 ?)與智能化分析軟件,可精準(zhǔn)測(cè)量臺(tái)階高度(納米至1050μm)、表面粗糙度(Ra、Rz等參數(shù))、膜層厚度及應(yīng)力分布,為材料研發(fā)、工藝優(yōu)化與質(zhì)量管控提供可靠數(shù)據(jù)支持。
NS系列臺(tái)階儀實(shí)物圖:緊湊設(shè)計(jì),高效集成
核心優(yōu)勢(shì)
1. 超高精度與穩(wěn)定性
亞埃級(jí)分辨率:采用線性可變差動(dòng)電容傳感器(LVDC),重復(fù)性達(dá)5 ?(330μm量程),確保納米級(jí)數(shù)據(jù)可靠性。
超低噪聲信號(hào)采集:集成超精密位移臺(tái)與標(biāo)定算法,適應(yīng)實(shí)驗(yàn)室及工業(yè)環(huán)境,抗振動(dòng)干擾能力強(qiáng)。
2. 多功能智能測(cè)量
多模式覆蓋:支持單區(qū)域、多區(qū)域陣列掃描及3D面掃描,一鍵生成三維輪廓圖,滿足復(fù)雜形貌分析需求。
SPC統(tǒng)計(jì)分析:批量樣品數(shù)據(jù)自動(dòng)生成趨勢(shì)圖表,助力工藝過(guò)程監(jiān)控與優(yōu)化。
3. 高效操作與靈活適配
磁吸式快速換針:無(wú)需工具即可更換測(cè)針(標(biāo)配2μm金剛石針),支持330μm與1050μm量程自由切換。
雙導(dǎo)航光學(xué)影像:500萬(wàn)像素高清相機(jī)(NS200-D型號(hào))提供正視/斜視雙視角,精準(zhǔn)定位掃描路徑,降低人為誤差。
大尺寸兼容性:NS系列半導(dǎo)體臺(tái)階高度測(cè)量?jī)x器電動(dòng)X/Y平臺(tái)(150mm×150mm)搭配8英寸晶圓載物臺(tái),適配半導(dǎo)體晶圓、光伏基板等大尺寸樣品。
磁吸式測(cè)針(330μm量程):操作便捷,維護(hù)高效
行業(yè)應(yīng)用場(chǎng)景
半導(dǎo)體制造:沉積/蝕刻薄膜厚度測(cè)量、CMP工藝表面平整度檢測(cè)、抗蝕劑臺(tái)階高度分析。
光伏與顯示面板:太陽(yáng)能涂層膜厚、AMOLED屏微結(jié)構(gòu)、觸控面板銅跡線測(cè)量。
MEMS與微納材料:微型傳感器形貌表征、柔性電子器件薄膜厚度檢測(cè)。
科研與高校:材料表面應(yīng)力分析、微加工工藝研發(fā)數(shù)據(jù)支撐。
部分技術(shù)參數(shù)
型號(hào) | NS200 |
測(cè)量技術(shù) | 探針式表面輪廓測(cè)量技術(shù) |
探針傳感器 | 超低慣量,LVDC傳感器 |
平臺(tái)移動(dòng)范圍X/Y | 電動(dòng)X/Y(150mm*150mm)(可手動(dòng)校平) |
樣品R-θ載物臺(tái) | 電動(dòng),360°連續(xù)旋轉(zhuǎn) |
單次掃描長(zhǎng)度 | 55mm |
樣品厚度 | 50mm |
載物臺(tái)晶圓尺寸 | 150mm(6吋),200mm(8吋) |
尺寸(L×W×H)mm | 640*626*534 |
重量 | 40kg |
儀器電源 | 100-240 VAC,50/60 Hz,200W |
使用環(huán)境
相對(duì)濕度:濕度 (無(wú)凝結(jié))30-40% RH
溫度:16-25℃ (每小時(shí)溫度變化小于2℃)
地面振動(dòng):6.35μm/s(1-100Hz)
音頻噪音:≤80dB
空氣層流:≤0.508 m/s(向下流動(dòng))
懇請(qǐng)注意:因市場(chǎng)發(fā)展和產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的需要,本產(chǎn)品資料中有關(guān)內(nèi)容可能會(huì)根據(jù)實(shí)際情況隨時(shí)更新或修改,恕不另行通知,不便之處敬請(qǐng)諒解。
如有疑問(wèn)或需要更多詳細(xì)信息,請(qǐng)隨時(shí)聯(lián)系中圖儀器咨詢。