冷熱三箱沖擊試驗(yàn)箱主要用于測(cè)試材料對(duì)極熱溫或極冷溫的抵抗力，能使各種物品在短時(shí)間內(nèi)完成測(cè)試。常用于電子電器成品或零組件、汽車配件、自動(dòng)化零部件、塑膠、金屬、光電、光伏及高分子材料等行業(yè)，測(cè)試其對(duì)冷溫、熱溫的反復(fù)抵抗力及產(chǎn)品處于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量及改善產(chǎn)品的品質(zhì)。
冷熱三箱沖擊試驗(yàn)箱?參數(shù)可選擇如下：
1. 實(shí)驗(yàn)箱沖擊溫度：
高溫 +60～150℃（固定）
低溫 A：(-10～ -40℃)
B：(-10～ -55℃)
C：( -10～ -65℃)（可選擇其中一個(gè)低溫配高溫）
2. 高溫儲(chǔ)溫箱高溫范圍可達(dá)：+60 ~200℃.
3. 低溫儲(chǔ)溫箱低溫范圍可達(dá)：-10℃~-75℃
4. 高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間：≤10S
5. 風(fēng)門啟動(dòng)時(shí)間：≤3S
6. 高低溫恢復(fù)時(shí)間：3~5min（非線性空載下）
7. 預(yù)冷區(qū)降溫速度： ≥2℃/min（非線性）
8. 預(yù)熱區(qū)升溫速度： ≥3℃/min（非線性）
9. 控制精度：溫度±0.2℃
10. 溫度波動(dòng)度：≤0.5℃
11. 溫度均勻度：≤2.0℃
12. 時(shí)間設(shè)定0～99Hour59Min。
滿足以下標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；
GB/T 2423.22-2002溫度變化
GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
