TE194 混疊效應(yīng)測(cè)試卡
- 更新時(shí)間：2018-09-13
- 產(chǎn)品型號(hào)：
- 廠商性質(zhì)：代理商
- 產(chǎn)品品牌：慧龍環(huán)科
- 產(chǎn)品廠地：北京市
- 訪問(wèn)次數(shù)：139
TE194 混疊效應(yīng)測(cè)試卡設(shè)計(jì)用于測(cè)量混疊。該測(cè)試卡由八行矩形條組成，空間頻率為1,2,4,6,8,10,12和14 MHz。
TE194 混疊效應(yīng)測(cè)試卡
測(cè)試卡介紹
混疊效應(yīng)測(cè)試卡TE194設(shè)計(jì)用于測(cè)量混疊。該測(cè)試卡由八行矩形條組成，空間頻率為1,2,4,6,8,10,12和14 MHz。
混疊效應(yīng)（鋸齒效應(yīng)）是由兩個(gè)光柵的干涉引起的摩爾扭曲。獨(dú)立于相機(jī)類型，鋸齒效應(yīng)可能由于動(dòng)態(tài)光柵和TV線結(jié)構(gòu)的干擾而產(chǎn)生。的百葉簾效應(yīng)或紡織條紋圖案。
CCD相機(jī)具有由空間圖像采樣引起的特殊的內(nèi)在混疊問(wèn)題。在相機(jī)輸出處獲得的信號(hào)的頻譜受到在CCD采樣頻率的倍數(shù)周圍重復(fù)的基本頻譜的損害。 CCD采樣頻率取決于CCD尺寸和每個(gè)CCD寬度的像素?cái)?shù)量。對(duì)于圖像的一些高空間頻率，不滿足由采樣定理規(guī)定的條件，使得基本頻譜和復(fù)制頻譜可以被疊加并且引起頻率間跳動(dòng)。結(jié)果就是在圖片中的摩爾紋。
摩爾紋的可視性取決于分析儀的類型，相機(jī)的低通光學(xué)濾波以及所分析的測(cè)試圖案的空間頻率。
TE194由8行矩形條組成，空間頻率為1,2,4,6,8,10,12和14MHz。要調(diào)整奇數(shù)頻率值3到13，圖像必須以被測(cè)試圖的上邊緣和下邊緣上的相應(yīng)標(biāo)記（箭頭）限制的方式放大。
可以使用頻譜分析儀或?qū)拵б曨l示波器進(jìn)行測(cè)量程序。
測(cè)量條件
- 伽瑪校正：關(guān)閉
- 輪廓校正：關(guān)閉
- 顏色校正：打開(kāi)
頻譜分析儀測(cè)量
測(cè)量原理在于，在亮度信號(hào)Y或編碼Y的光譜分析上，依次定位R，G，B;干擾線由采樣產(chǎn)生。照相機(jī)在給定的空間頻率下在測(cè)試圖上對(duì)準(zhǔn)。攝像機(jī)輸出與頻譜分析儀的輸入相連。調(diào)整光圈，使得白電平對(duì)應(yīng)于700mV / 75歐姆的視覺(jué)信號(hào)。基座設(shè)置為0mV。
如果水平CCD像素的數(shù)量是已知的，則可以計(jì)算容易位于分析儀屏幕上的采樣頻率：
采樣F（MHz）=水平像素?cái)?shù)/ 52
干擾線的頻率由采樣頻率和測(cè)試模式頻率之間的差給出：
干擾F =采樣F — 測(cè)試模式F
測(cè)量涉及確定測(cè)試圖案頻率處的有用信號(hào)與干擾頻率處的信號(hào)之間的電平差。必須對(duì)每個(gè)空間頻率重復(fù)測(cè)量并進(jìn)行幾次（約10次）以確定平均結(jié)果。
TE194 混疊效應(yīng)測(cè)試卡參數(shù):
型號(hào) | TE194 |
尺寸 | 可定制 |
材料 | 高清相紙/菲林 |
類型 | 反射式/透射式可選 |
比例 | 4:3 |
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