布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線(xiàn)衍射儀，采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì)，通過(guò)TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)，成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換，而無(wú)需對(duì)光。通過(guò)TWIST TUBE技術(shù)，使用戶(hù)可以在1分鐘內(nèi)完成從線(xiàn)光源應(yīng)用（常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點(diǎn)光源應(yīng)用（織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū)）的切換，讓煩人的光路互換、重新對(duì)光等問(wèn)題從此成為歷史！
高精度的測(cè)角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個(gè)衍射峰（注意不是一個(gè)衍射峰）的測(cè)量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過(guò)0.01度，布魯克AXS公司提供保證！
的林克斯陣列探測(cè)器可以提高強(qiáng)度150倍，不僅答復(fù)提高設(shè)備的使用效率， 而且大幅提高了設(shè)備的探測(cè)靈敏度。
技術(shù)指標(biāo)：
●Theta/theta 立式測(cè)角儀
●2Theta角度范圍：-110~168°
●角度精度：0.0001度
●Cr/Co/Cu靶，標(biāo)準(zhǔn)尺寸光管
●探測(cè)器：林克斯陣列探測(cè)器、林克斯XE陣列探測(cè)器
●儀器尺寸：1868x1300x1135mm
●重量：770kg
應(yīng)用:
●物相定性分析
●結(jié)晶度及非晶相含量分析
●結(jié)構(gòu)精修及解析
●物相定量分析
●點(diǎn)陣參數(shù)精確測(cè)量
●無(wú)標(biāo)樣定量分析
●微觀(guān)應(yīng)變分析
●晶粒尺寸分析
●原位分析
●殘余應(yīng)力
●低角度介孔材料測(cè)量
●織構(gòu)及ODF分析
●薄膜掠入射
●薄膜反射率測(cè)量
●小角散射
高精度的測(cè)角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個(gè)衍射峰（注意不是一個(gè)衍射峰）的測(cè)量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過(guò)0.01度，布魯克AXS公司提供保證！
的林克斯陣列探測(cè)器可以提高強(qiáng)度150倍，不僅答復(fù)提高設(shè)備的使用效率， 而且大幅提高了設(shè)備的探測(cè)靈敏度。
技術(shù)指標(biāo)：
●Theta/theta 立式測(cè)角儀
●2Theta角度范圍：-110~168°
●角度精度：0.0001度
●Cr/Co/Cu靶，標(biāo)準(zhǔn)尺寸光管
●探測(cè)器：林克斯陣列探測(cè)器、林克斯XE陣列探測(cè)器
●儀器尺寸：1868x1300x1135mm
●重量：770kg
應(yīng)用:
●物相定性分析
●結(jié)晶度及非晶相含量分析
●結(jié)構(gòu)精修及解析
●物相定量分析
●點(diǎn)陣參數(shù)精確測(cè)量
●無(wú)標(biāo)樣定量分析
●微觀(guān)應(yīng)變分析
●晶粒尺寸分析
●原位分析
●殘余應(yīng)力
●低角度介孔材料測(cè)量
●織構(gòu)及ODF分析
●薄膜掠入射
●薄膜反射率測(cè)量
●小角散射
