不飽和加速壽命試驗機/飽和加速壽命試驗機/高壓加速壽命試驗機
高度加速壽命試驗機的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等),加*試驗過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。
用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機械零件的磨耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。
隨著半導體可靠性的提高,目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產(chǎn)生失效,因此用來確定成品質(zhì)量的測試時間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間,采用了*新的壓力蒸煮鍋試驗方法。壓力蒸煮鍋試驗方法主要分成兩種類型:即PCT和USPCT(HAST) 現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗作為濕熱加速試驗被IEC(國際電工委員會)所標準化。
產(chǎn)品特點:
1、圓形橫置式內(nèi)槽結(jié)構(gòu)設(shè)計方便使用者取置待測品
2、馬達驅(qū)動磁性風扇機構(gòu)循環(huán)(溫度 / 濕度分布均勻佳)
3、安*程序自動停機,自動泄壓,自動破真空,自動給水
4、HAST設(shè)備本體材質(zhì)SUS#316,外部包裝材質(zhì)SUS#304
5、電磁風扇馬達循環(huán)裝置濕度分布均勻
6、飽和或不飽和可程控模式
7、溫度 / 濕度 / 濕球 / 溫度 / 壓力 / 電壓顯示
溫度范圍 | 105.0℃~+142.9℃ |
濕度范圍 | 75~100RH |
溫濕度穩(wěn)定度 | ±0.5℃、±3℃RH |
溫度分布均度 | ±1℃ |
壓力范圍 | 0.2~2.0kg/cm2G(選配0.2~4.0kg/cm2G) |
升溫時間 | 室溫上升140℃需約120分鐘 |
內(nèi)箱尺寸 | ¢45×45/¢65×60 |
材 質(zhì) | 內(nèi)外不銹鋼板 |
電 源 | 1¢220V 60HZ /380V50HZ 20A |