Dimension ICON 原子力顯微鏡儀器，集成了過去幾十年的研究和技術(shù)創(chuàng)新經(jīng)驗，為納米尺度研究提供優(yōu)秀的功能、性能和表現(xiàn)。為納米力學(xué)、電學(xué)、電化學(xué)等研究領(lǐng)域的表征工作提供了功能模塊方案，使得對空氣、液體或電化學(xué)環(huán)境里的材料和納米系統(tǒng)的定量表征更加簡便。

Dimension lcon® AFM 平臺上可提供不同的功能配置，給研究領(lǐng)域提供優(yōu)秀的技術(shù)和性能套裝:

納米力學(xué)

通過一系列的力學(xué)測量模式，能全面地檢測聚合物分子材料中的微小結(jié)構(gòu)，分辨率能達到亞分子尺度級別

全新的AFM-nDMA™模式下，納米力學(xué)性質(zhì)測量數(shù)據(jù)與傳統(tǒng)DMA測試和納米壓痕測試結(jié)果緊密吻合

測試范圍包括了從軟、粘的凝膠和復(fù)合材料到堅硬的金屬和陶瓷材料，提供納米尺度的定量表征

納米電學(xué)

一套集成了一系列的AFM電學(xué)測量技術(shù)的系統(tǒng)

全新的DataCube模式，得到圖像上每個像素點的電學(xué)譜線信息，并關(guān)聯(lián)同步力學(xué)性質(zhì)表征

一次測量得到傳統(tǒng)AFM模式無法得到的完備電學(xué)信息

納米電化學(xué)

基于AFM平臺的電化學(xué)(EC-AFM)和納米掃描電化學(xué)顯微鏡(AFM-SECM)模式可靠地表征材料電化學(xué)性質(zhì)

掃描電化學(xué)顯微鏡空間分辨率可達<100 nm 級別

同步測量材料的電化學(xué)、電學(xué)和力學(xué)性質(zhì)

高空間分辨率下的完備表面表征

采用大樣品臺的Dimension lcon AFM幫助提升了原子力顯微鏡技術(shù)和材料科學(xué)領(lǐng)域的發(fā)展，在世界范圍內(nèi)已有超過干篇的科研文獻發(fā)表。在此平臺上集成了30多年來原子力顯微鏡的技術(shù)，為納米力學(xué)、電學(xué)、電化學(xué)研究提供了特制的表征技術(shù)。您會從中獲得商用AFM設(shè)備的高性能表現(xiàn)，新技術(shù)進展，優(yōu)異的測量重復(fù)性和操作簡便性。

Dimension lcon 是世界范圍內(nèi)廣泛采用的大樣品臺AFM設(shè)備，擁有業(yè)界的可擴展性、的性能表現(xiàn)和測量效率:

同一個AFM平臺上的多種關(guān)聯(lián)測量技術(shù)和模式適用多種樣品尺寸或多個樣品，的可擴展性。

的傳感器設(shè)計，在閉環(huán)條件下，也能實現(xiàn)大樣品臺、針尖掃描的AFM具有與開環(huán)噪音水平一樣的低噪音水平，且具有的掃描分辨率。

智能成像極大地簡化了參數(shù)調(diào)整的復(fù)雜性。利用探針和樣品之間的峰值力做反饋，采用2kHz的頻率在樣品表面做力曲線，探針和樣品間的相互作用力可達10pN，能對很黏很軟的樣品實現(xiàn)高分辨成像，同時直接得到納米尺度的定量力學(xué)信息。

測試性能和可重復(fù)性，的熱漂移水平，熱漂移低于200pm/分鐘，真正獲得無扭曲圖像。

快速掃描和自動化模式可將大量測試集成在預(yù)設(shè)模式下，達到的測試效率。掃描速度可達91HZ。

XYZ閉環(huán)掃描器的新設(shè)計，使儀器在較高掃描速度工作時，也不降低圖像質(zhì)量，具有更大的數(shù)據(jù)采集效率。

既有振幅調(diào)制又有頻率調(diào)制的峰值力開爾文探針顯微鏡，可測量高達100V的電勢差，同時還可測是樣品的模量和粘附力力學(xué)信息。

多維1-V曲線測量，寬電流測試范圍，電流測量范圍從100fA至1uA。

全套的定量納米力學(xué)測量功能，使得用戶可以完整地表征樣品各種力學(xué)性能，包括流變學(xué)特性。

全套的納米電學(xué)測量功能，使得用戶可以完整地表征樣品的導(dǎo)電性、功函數(shù)、介電特性以及帶電狀態(tài)。

全套的納米電化學(xué)測量功能，使得用戶在新能源、催化、腐蝕等方面具有全新的解決方案。