| | | | | 一、用途
XPV-203E/XPV-203Z 透反射偏光顯微鏡及熔點測定系統(tǒng)是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、石油化工、化纖、半導(dǎo)體工業(yè)以及藥品檢驗等部門和相關(guān)高等院校高分子等專業(yè)的專業(yè)實驗儀器。透反射偏光顯微鏡可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察及顯微攝影，觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。透反射偏光顯微鏡采用微電腦檢測，有自動P、I、D調(diào)節(jié)及模糊手動調(diào)節(jié)功能，通過LED顯示溫度值及設(shè)定溫度值，儀表顯示準(zhǔn)確、清晰、穩(wěn)定，對溫度控制 |  |  | | 透反射偏光顯微鏡 XPV-203E | 透反射偏光顯微鏡 XPV-203Z |  查看大圖 | 查看大圖 | 可設(shè)定程序，設(shè)有“上、下”限自動報警
裝置，并可隨時檢查設(shè)定的溫度數(shù)據(jù)，是新一代熔點測溫、控溫裝置。顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件。本儀器具有可擴展性，可以接計算機和數(shù)碼相機，對圖片進行編輯、保存和打印。是一組具有較完備功能的新型產(chǎn)品。 | | 二、系統(tǒng)簡介 | | 透反射偏光顯微鏡系統(tǒng)是將精密的光學(xué)顯微鏡技術(shù)、的光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、的計算機圖像處理技術(shù)地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成功的一項高科技產(chǎn)品。透反射偏光顯微鏡可以在顯示屏上很方便地觀察實時動態(tài)圖像，并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。 | | 三、技術(shù)參數(shù)： | 1.目鏡： | 類 別 | 放大倍數(shù) | 視場（mm） | | 網(wǎng)格目鏡 | 10X | φ18 | | 十字目鏡 | 10X | φ18 | | 分劃目鏡 | 10X | φ18 |
2.物鏡： | 類 別 | 放大倍數(shù) | 數(shù)值孔徑（NA） | 工作距離（mm） | 蓋玻片厚度（mm） | | 物 鏡 | 4X | 0.10 | 7.80 | - | | 10X | 0.25 | 4.70 | - | | 25X | 0.40 | 1.75 | 0.17 | | 40X | 0.65 | 0.72 | 0.17 | | 63X | 0.85 | 0.18 | 0.17 |
3.放大倍數(shù)：40X-630X 系統(tǒng)放大倍數(shù)：40X-2600X
4.聚光鏡數(shù)值孔徑：NA1.2/0.22 搖出式消色差聚光鏡，中心可調(diào)。
5.起偏鏡：振動方向360°可調(diào)，帶鎖緊裝置，可移動光路
6.檢偏鏡:可移出光路，旋轉(zhuǎn)范圍90°內(nèi)置勃氏鏡，中心、焦距可調(diào)
7.補償器：λ片(φ18mm，一級紅，光程差551nm) λ/4片（φ18mm, 光程差147.3nm）
石英楔子(12x28mm，Ⅰ-Ⅳ級)
8.調(diào)焦系統(tǒng)：帶限位和調(diào)節(jié)松緊裝置的同軸粗微調(diào)，格值為0.002mm
9.電光源：6V/20W鹵素?zé)簦炼瓤烧{(diào)） | 四、反射照明、同軸照明器（又名垂直照明器）
同軸照明器又名垂直照明器，它是顯微鏡垂直照明系統(tǒng)，系統(tǒng)系數(shù)1倍，可適配與各型號的普通（160mm機械筒長，斜筒式）顯微鏡 ?？勺鳛榉瓷涔庹彰飨到y(tǒng)下觀察不透明物體表面細(xì)微結(jié)構(gòu)。
垂直照明裝置配置與顯微鏡上不僅能進行一般金相分析、微粒分析測試還可以對非金屬不透明物體進行分析、觀察而且配有偏光系統(tǒng)，作偏光觀察。 | | 五、系統(tǒng)組成 | 透反射偏光顯微鏡（XPV-203E）：1、偏光顯微鏡 2、同軸照明器 3.攝像器(CCD) 4.A/D(圖像采集) 5、計算機
透反射偏光顯微鏡（XPV-203Z）：1、偏光顯微鏡 2、同軸照明器 4、數(shù)碼相機系統(tǒng) |  數(shù)碼顯微成像系統(tǒng) | | 電腦顯微成像系統(tǒng) | | | 六、選購件 | | 1、高像素成像系統(tǒng) 2.偏光顯微鏡分析軟件 | | 工廠實驗室選型 | 高校實驗室選型 | | 典型應(yīng)用圖例 | 儀器圖解說明 | | 偏光動態(tài)圖例 | | | | |
