產(chǎn)品描述
一次測(cè)量的質(zhì)量,主要由幾個(gè)關(guān)鍵因素決定。包括:選擇適當(dāng)?shù)奶筋^和探頭本身的質(zhì)量等。 Helmut FischerGmbH為您提供種類(lèi)繁多而又品質(zhì)的高精度探頭,所有探頭都是按照很高的品質(zhì)要求自行開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)。
鍍層/底材的種類(lèi)是選擇探頭重要的依據(jù)。另外,鍍層的大致厚度、底材的材料、測(cè)量點(diǎn)的面積以及樣品的形狀和表面情況都是選擇探頭時(shí)需要考慮的因素。曲率補(bǔ)償探頭(渦流法)適用于不同曲面的樣品;雙觸點(diǎn)探頭能夠在粗糙的表面上得到精確的結(jié)果。 FMP1、 FMP20、 FMP30、 FMP40型儀器都可以通過(guò)連接不同的探頭來(lái)滿(mǎn)足您不同的測(cè)量需求。
| 主要應(yīng)用: ※測(cè)量范圍從納米級(jí)到毫米級(jí)不等 ※磁性底材上的非鐵磁性涂鍍層 ※導(dǎo)電非鐵磁性底材上的非鐵磁性和非導(dǎo)電性涂鍍層 ※各種底材上的導(dǎo)電性涂鍍層 ※非鐵磁性導(dǎo)電底材上的鐵磁性涂鍍層 ※非鐵磁性材料的電導(dǎo)率測(cè)量、材料特性測(cè)試, ※如:微觀結(jié)構(gòu)以及由熱損傷或材料疲勞導(dǎo)致的材料性能轉(zhuǎn)變 ※奧氏體鋼和雙相鋼上的鐵素體和馬氏體含量測(cè)試 |
為了獲得準(zhǔn)確的結(jié)果,測(cè)量探頭必須具有適合各種應(yīng)用的某些特殊性能。選擇合適的探頭對(duì)測(cè)量結(jié)果的質(zhì)量有很大影響,因?yàn)樗莻鬏攲?shí)際測(cè)量信號(hào)的途徑?;谠谥T多領(lǐng)域中數(shù)十年的經(jīng)驗(yàn),F(xiàn)ISCHER針對(duì)接觸式測(cè)量技術(shù)打造出了豐富的高品質(zhì)探頭產(chǎn)品,適用于涂鍍層厚度測(cè)量和材料測(cè)試。
探頭特性:
對(duì)于探頭的選擇,我們建議您選擇適合您應(yīng)用的探頭,您可以索取《探頭與配件》樣本來(lái)了解更多關(guān)于探頭的信息。