Prisma & Prisma EX多功能環(huán)境真空鎢燈絲分析掃描電子顯微鏡
- 一款真正多用途實(shí)驗(yàn)室用性能全面、易操作的SEM鎢燈絲掃描電子顯微鏡
- 具有的ESEM™環(huán)境真空模式
- 高真空、低真空和ESEM™環(huán)境真空三種真空模式，適合分析泛的樣品，樣品范圍包括導(dǎo)電材料、不導(dǎo)電材料、脫氣、未鍍膜或其他不適用真空的樣品。
- 一系列集成的實(shí)時(shí)分析軟件來完成動(dòng)態(tài)的實(shí)驗(yàn)檢測分析。
- 低真空和ESEM環(huán)境真空能夠滿足非導(dǎo)電材料和含稅樣品的檢測分析
- 原位功能使即使是絕緣的或高溫的樣品也能獲得可靠的分析結(jié)果。
- 支持掃描前的預(yù)設(shè)置，具有導(dǎo)航和SmartScanTM功能的相機(jī)提高了工作效率、數(shù)據(jù)質(zhì)量和滿足更高要求的使用要求。
- -165°C to 1400°C溫度范圍下的原位分析
- 加速電壓: 200 V - 30 kV
- 電子放大倍數(shù): 6x – 1,000,000x (可同時(shí)采集和顯示四幅圖像)
- 探測器：高真空模式Everhart-Thomley二次電子探測器(E-T SED)；低真空SE探測器（LVD）；ESEM環(huán)境真空模式氣體二次電子探測器（GESD）；樣品室紅外CCD相機(jī)
- 真空系統(tǒng)：1個(gè)250L/s渦輪分子泵，1個(gè)旋轉(zhuǎn)機(jī)械泵；的“穿過透鏡”的壓差真空系統(tǒng)；排氣時(shí)間≤3.5min到高真空，≤4.5min到ESEM真空/低真空；可選CryoCleaner冷阱；可選升級到無油滾動(dòng)/干式PVPs
- 樣品室：
o 內(nèi)徑 340 mm
o 分析工作距離 10 mm
o 12個(gè)附件接口
o EDS采集角: 35°
- 分辨率：
高真空模式
- 3.0 nm @ 30 kV (SE)
- 4.0 nm @ 30 kV (BSE)*
- 8.0 nm @ 3 kV (SE)
高真空下減速模式
- 7.0 nm @ 3 kV
低真空模式
- 3.0 nm @ 30 kV (SE)
- 4.0 nm @ 30 kV (BSE)
- 10 nm @ 3 kV (SE)
- ESEM環(huán)境真空
- 3.0 nm @ 30 kV (SE)
