芯片推拉力測試機具有測試動作迅速、準確、適用面廣的特點，被廣泛應(yīng)用于半導體封裝、光通訊器材件封裝、LED封裝、COB/COG工藝測試、研究所材料力學研究、材料可靠性測試等應(yīng)用領(lǐng)域。能滿足包含有：金屬、銅線、合金線、鋁線、鋁帶等拉力測試、金球、銅球、錫球、晶圓、芯片、貼片元件等推力測試、錫球、BumpPin等拉拔測試等等具體應(yīng)用需求，功能可擴張性強、操控便捷、測試高效準確。半導體封裝測試設(shè)備晶片芯片推拉測試儀

　   半導體推力測試儀亦可稱之為大面積推拉力試驗機，可進行拉伸、壓縮、彎曲、剝離、撕裂、剪切、刺破、壓陷硬度、低周疲勞等各項物理力學試驗。還能自動求取大試驗力、斷裂力、屈服HRb、抗拉強度、彎曲強度，彈性模量、伸長率、定伸長應(yīng)力、定應(yīng)力伸長、定應(yīng)壓縮等，故廣泛應(yīng)用于半導體封裝、LED封裝、智慧卡封裝、通訊電子、汽車電子產(chǎn)業(yè)及各類研究所、大專院校、電子電路失分析與測試等領(lǐng)域。半導體封裝測試設(shè)備晶片芯片推拉測試儀

產(chǎn)品優(yōu)勢：

1.采用測試工位自動模式，在軟件選擇測試工位后，系統(tǒng)自動到達對應(yīng)工作位。

2.三個工作傳感器，采用獨立采集系統(tǒng)，保證測試精度。

3.每項傳感器采用獨立防碰撞及過力保護系統(tǒng)。

4.每項測試工位采用獨立安全限位及限速功能。

5.人性化的操作界面，人員操作方便。

6.高精度傳感系統(tǒng)結(jié)合力學算法，確保測試的精度。

產(chǎn)品特點：

1.采用精密動態(tài)傳感采集技術(shù)，確保測試數(shù)據(jù)精度的真實性。

2.采用進口傳動部件，確保機臺運行穩(wěn)定性及測試精度。

3.三工位自動旋轉(zhuǎn)切換，避免因人員誤操作帶來的設(shè)備損壞。

4.霍爾雙搖桿四向操作，讓操作簡單、方便。

5.匹配工廠MES系統(tǒng)。

6.測試數(shù)據(jù)實時保存與導出，方便快捷。

測試參數(shù)：

設(shè)備型號: LB-8500L

外形尺寸: 1500mm*1200mm*1650mm

設(shè)備重量: 約 800KG

電源供應(yīng): 110V/220V@5.0A 50/60Hz

氣壓供應(yīng): 4.5-6Bar

控制電腦: 聯(lián)想/惠普原裝 PC

電腦系統(tǒng): Windows7/Windows10 正版系統(tǒng)

顯微鏡: 標配三目連續(xù)變倍顯微鏡+高清 CCD 相機

傳感器更換方式: 手動更換（根據(jù)測試需要選擇相應(yīng)的測試模組，軟件自動識別模組量程）

平臺治具: 360 度旋轉(zhuǎn)，平臺可共用各種測試治具

XY 軸絲桿有效行程: 500mm*300mm，測試力 100KG

XY軸移動速度: 采用霍爾搖桿對 XY 軸自由控制，移動速度為 10mm/S

XY 軸絲桿精度: 重復精度±5um 分辯率≤0.125 ；2mm 以內(nèi)精度±2um

Z 軸絲桿有效行程: 100mm 分辯率≤0.125um，測試力 20KG

Z 軸移動速度: 采用霍爾搖桿對 Z 軸自由控制，移動速度為 8mm/S

Z 軸絲桿精度: ±2um 剪切精度：2mm 以內(nèi)精度±1um

傳感器精度: 傳感器精度±0.003%；綜合測試精度±0.25%

設(shè)備治具: 根據(jù)樣品或圖紙按產(chǎn)品設(shè)計治具（出廠標配一套）

設(shè)備校正: 設(shè)備出廠標配相應(yīng)校正治具及砝碼一套

質(zhì)量保證: 設(shè)備整機質(zhì)保 2 年，軟件升（人為損壞不含）