植物冠層分析系統(tǒng)采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中準確和省力、省時、快捷方便的方法。
植物冠層分析系統(tǒng)采用了冠層孔隙率與冠層結構相關的原理。它是根據(jù)光線穿過介質減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結構參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。
測量參數(shù)
葉面積指數(shù)
葉片平均傾角
散射輻射透過率
不同太陽高度角下的直射輻射透過率
不同太陽高度角下的消光系數(shù)
葉面積密度的方位分布
功能特點
非破壞性地測定冠層結構
可以測量冠層內外的光合有效輻射(PAR)
手持式萬向接頭自動水平調整探頭，無需三角架
隨身攜帶的筆記本計算機可以幫助你正確選點取樣，即時決定圖像的取舍
由外接鋰電池組提供電源便于觀測和長時間測量，尤其適合完成野外繁重的觀測任務
鏡頭角度：150°(或用戶自選180°鏡頭。除用戶有特殊需要，180°魚眼鏡頭經(jīng)常不適合
孔隙測量原理與方法所假設的前提條件，用于冠層結構分析是不適宜和不經(jīng)濟的)
分辨率：768×494pix
測量范圍：天頂角由0°～75°
PAR感應范圍：感應光譜400nm～ 700nm 測量范圍0～2000μmol/㎡•S
分析軟件：植物冠層
顯示和內存：決定于筆記本電腦的選擇。
電 源：鋰電池組
傳輸接口：USB
工作溫度：0～55℃
