國(guó)產(chǎn)磁阻法測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)原理進(jìn)行測(cè)量,符合標(biāo)準(zhǔn)
ISO2178和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956。當(dāng)探頭與覆蓋層接觸時(shí),探
頭和磁性基體構(gòu)成一閉合磁回路,由于非磁性覆蓋層存
在,使磁路磁阻增加,磁阻的大小正比于覆蓋層的厚度。
通過對(duì)磁阻的測(cè)量,經(jīng)電腦進(jìn)行分析處理,由液晶顯示器
直接顯示出測(cè)量值。
國(guó)產(chǎn)磁阻法測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
1)測(cè)量范圍:0μm~1200μm。
2)示值誤差:±((1~3)%H+1μm)H為被測(cè)涂層厚度。
3)分 辨 率:1μm。
4)zui小測(cè)量面的直徑:φ10 mm。
5)顯 示:4位LCD顯示測(cè)量的次數(shù)、平均值、zui
大值、zui小值,同時(shí)指示儀器的工作狀
態(tài)及電池使用情況。
6)電 源:一節(jié)6F22型9V電池。
7)外形尺寸:160 mm×80 mm×30 mm。
8)質(zhì) 量:約250g。
產(chǎn)品關(guān)鍵詞: 磁阻法測(cè)厚儀,涂層測(cè)厚儀,薄膜測(cè)厚儀,手持式測(cè)厚儀