產品介紹
英文名稱:Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test
產品別名:HAST壽命試驗箱,高壓蒸煮試驗箱、HALT、 HAST 試驗箱,高加速溫度和濕度壓力測試箱,HAST CHAMBER,加速老化試驗機,高溫高濕高壓老化箱,加速壽命試驗機,高壓加速老化箱,壽命高加速試驗箱,飽和穩(wěn)態(tài)濕熱試驗箱,HAST測試箱等可靠性試驗設備。
產品用途:
HAST試驗箱適用于IC封裝,半導體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗,使用于在產品的設計階段,用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能。
應用領域:
廣泛用于IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關之產品作加速老化壽命試驗。
產品特點:
◆內膽采用雙層圓弧設計,可以防止試驗結露滴水現象,從而避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果。
◆采用7寸真彩式觸摸屏,擁有250組12500段程序,具有USB曲線數據下載功能,RS-485通訊接口。
◆采用干濕球傳感器直接測量(控制模式分為:干濕球、不飽和、濕潤飽和等3種模式)。
產品參數
更多型號支持非標定制
適用標準:GB/T2423.40,IEC60068-2-66,JESD22-A102-D,JESD22-A110-D,JESD22-A118-A
當今的技術正在朝著具有較高漏芯電流的器件的薄型/低幾何尺寸封裝發(fā)展,這會產生內部功耗,進而將水分從芯片/器件中帶走,
并阻止了與水分相關的失效機理的分析。
HAST(高度加速的溫度和濕度應力測試)已成為設備封裝可靠性和鑒定過程的關鍵部分,它主要用于評估潮濕環(huán)境下非密封包裝設備的可靠性。這是通過在高度受控的壓力容器內設置和創(chuàng)建溫度-濕度-壓力的各種條件來完成的,這些條件加速了水分通過外部保護性塑料封裝的滲透,
并將這些應力條件施加到芯片/器件上。
根據JEDEC JESD22-A110常見測試條件有:130°C / 85%RH / 33.3 psia和 110°C / 85%RH.17.7磅/平方英寸,持續(xù)時間:96或264小時。