LS225+N1500渦流測厚儀是一款便攜式分體式的渦流測厚儀，由主機(jī)LS225和非鐵基探頭N1500組成。儀器采用渦流感應(yīng)原理，具有超高的測量精度和重復(fù)性，配上探針式的測頭設(shè)計，特別適用于測量超薄涂層及氧化膜的各種小尺寸工件、異型材料。LS225+N1500渦流測厚儀可用于生產(chǎn)檢驗、施工驗收以及銷售展覽現(xiàn)場對非磁性金屬基材上的非導(dǎo)電涂層厚度進(jìn)行快速無損的測量，可應(yīng)用于航空工業(yè)、建材、機(jī)械、化工、輕工和儀表等行業(yè)。

　　LS225+N1500渦流測厚儀產(chǎn)品參數(shù)如下：

　　測量原理         渦流感應(yīng)

　　基體材料         非鐵磁性金屬

　　測量范圍         0.0-1500μm

　　分辨率     0.1μm:（0μm - 99.9μm）

　　1μm:（100μm - 999μm）

　　0.01mm:（1.00mm – 1.50mm）

　　重復(fù)性     ≤±（0.8%讀數(shù)+0.1μm）手壓測試機(jī)架測試

　　測量精度         ±（2%讀數(shù)+0.3μm）五點校準(zhǔn)

　　單位         μm/mil

　　測量間隔         0.8s

　　小測量區(qū)域         Ø=7mm

　　小曲率半徑         凸面1.5mm，凹面10mm

　　小基體厚度         0.05mm

　　用戶校準(zhǔn)         支持零點校準(zhǔn)，1點到5點校準(zhǔn)

　　探頭尺寸         長110mm×直徑15mm（不包括連線）

　　探頭重量（含電池）     81g

　　LS225+N1500渦流測厚儀產(chǎn)品特點：

　　1.LS225+N1500測量非磁性金屬基材上的超薄涂層支持調(diào)零和多點校準(zhǔn)確保數(shù)據(jù)更加，配備專門的調(diào)零板和標(biāo)準(zhǔn)片。

　　2.具備數(shù)據(jù)統(tǒng)計功能，自動統(tǒng)計近9組數(shù)據(jù)的值，值，平均值和方差值。

　　3.具有超寬量程0-1500μm，測量單位μm和mil可切換。

　　4.選購的手壓測試機(jī)架能消除人為因素造成的誤差，數(shù)據(jù)重復(fù)性可達(dá)0.1μm。

　　5.探針式測頭設(shè)計，特別適合于測量小尺寸和異型材料上的涂層及履層厚度。

　　6.LS225+N1500測量非磁性金屬基材上的超薄涂層采用高硬度測頭且增加了耐久性設(shè)計，可確保儀器具有超長使用壽命。

　　7.具備無操作自動關(guān)機(jī)功能（可設(shè)置1-9分鐘），中英文界面可自由切換。