托普云農(nóng)研發(fā)生產(chǎn)的植物冠層分析儀,它可測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透光率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內(nèi)外的光合有效輻射等。廣泛應(yīng)用于作物、植物群體冠層受光狀況的測量分析及農(nóng)業(yè)科研工作。
任何物質(zhì)都具有發(fā)射、吸收及反射電磁波的特性,這是光譜信息檢測的基本原理。通過測量每種物質(zhì)內(nèi)部成分相應(yīng)的敏感波段光譜輻射的吸收、發(fā)送或反射特性,間接確定該物質(zhì)的特性或組成成分。在實(shí)際應(yīng)用時(shí),僅需要選擇某些特定波段來識別被選定物質(zhì)的特性。利用窄帶過濾器來選擇可見光和近紅外(NIR) 區(qū)電磁波譜的某些波段。此波段區(qū)域可以用于量化各種脅迫導(dǎo)致的植物冠層發(fā)射率差異。400-900納米的可見/近紅外波段對探測和評估植物葉片病害的嚴(yán)重性十分有用。近紅外區(qū)的長波波段可以用于估計(jì)植物的生理參數(shù)與生物化學(xué)成份等信息。
植物冠層分析儀采用冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律,在對植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下,采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式,通過冠層孔隙的測定,計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀都是采用的原理,在上述原理下,植物冠層分析儀采用的是對冠層下測量冠層孔隙率方法,該方法是各類方法中精確和省力、省時(shí)、快捷方便的方法。
更多詳情:
植物冠層分析儀http://www.seed17。。com/products/id_73.html
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植物冠層分析儀用途及操作步驟
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- 公司名稱浙江托普儀器有限公司
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- 型 號
- 所 在 地杭州市
- 廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間2017/12/21 16:09:44
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英國Delta-T Devices SunScan專業(yè)版植物冠層分
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