耐電弧試驗儀-華測*產(chǎn)品簡介
耐電弧測試儀器是根據(jù)GB 1411-78《固體電工絕緣材料高壓小電流間歇耐電弧試驗方法》、IEC 61621及ASTM D495設(shè)計、制造的，并符合JEC 149、UL 746A等試驗方法。本儀器是在相距6.35mm的兩鎢棒電極上，由間隙到連續(xù)施加12500Ｖ電壓和10～40mA工頻的電弧電流，使試樣表面經(jīng)受逐漸嚴(yán)酷的燃弧條件，從而較細(xì)地分辨出材料的耐電弧性，以從電弧產(chǎn)生至材料破壞所經(jīng)過的全部時間作為評定結(jié)果。
規(guī)格
符合標(biāo)準(zhǔn)：
●《GB/T 1411-2002 干固體絕緣材料 耐高電壓、小電流電弧放電的試驗》
●ASTM D495-1999(2004) Standard Test Method for High-Voltage,Low-Current,Dry Arc Resistance of Solid E lectrical Insulation》
● IEC 61621-1997 Dry,Solid Insulating Materials. Resistance Test to High-Voltage,Low-Current Arc
Discharges Materiaux Isolants Solides Secs. Essai De Resistance Aux Decharges A L′Arc Haute
Tension,Faible Courant First Edition》
●IPC-TM-650、JEC149、UL746A等試驗方法
儀器優(yōu)勢:
采用德國西門子PLC系統(tǒng)，光電隔離、安全穩(wěn)定；
國家-TVS高壓防護(hù)系統(tǒng)、瞬間抑制浪涌對控制系統(tǒng)的沖擊
國家-多級循環(huán)電壓采集技術(shù)、保證試驗測試精度；
● TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)：
目前國內(nèi)材料耐電弧試驗儀采用的光耦隔離方式，但光耦與隔離無非是提高儀器的采集的抗干擾處理。對于電弧放電過程中的浪涌對控制系統(tǒng)的防護(hù)起不到任何作用。這也就是國產(chǎn)儀器維護(hù)率過高的主要原因。而華測獨(dú)立開發(fā)的TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù)，將起到對控制系統(tǒng)的防護(hù)。
●多級循環(huán)采集技術(shù)：
華測自主開發(fā)的多級循環(huán)電壓采集方式，大大提高目前電弧試驗普遍采用手動及干擾狀態(tài)下電壓及電流采集方式。
●低通濾波監(jiān)測技術(shù):
材料耐電弧試驗在10-40mA電流下進(jìn)行，強(qiáng)大的電磁干擾不僅影響試驗精度，同時也造成通訊中斷等一系列問題。
為更好解決這一難題，華測將低通濾波技術(shù)在電弧試驗儀器運(yùn)用。
●遠(yuǎn)程技術(shù)：
國內(nèi)*將遠(yuǎn)程技術(shù)在電弧試驗儀上應(yīng)用，試驗人員可遠(yuǎn)距離控制，同時可通過互聯(lián)網(wǎng)進(jìn)行在線診斷、升壓、維護(hù)等一系列問題。
軟件功能：
●操作系統(tǒng)：支持XP，win7,win8系統(tǒng)，操作人性化；
●數(shù)據(jù)導(dǎo)出：試驗結(jié)果方便導(dǎo)出。
●實驗報告：自定義報告名稱，并對實驗報告進(jìn)行打??；
●試驗方式：手動試驗、自動試驗；
●試驗方法：IEC ASTM多種選擇；
●參數(shù)設(shè)置：可以根據(jù)不同的試驗方式及試驗方法靈活設(shè)置所需的不同參數(shù)值
●校準(zhǔn)功能：可針對設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)設(shè)置；
