高壓差示掃描量熱儀型號：DSCHP

DSCHP  高壓差示掃描量熱儀介紹:
　　　材料的物理過程和化學反應會受到氣體壓力的影響，需要在一定壓力下進行DSC測試。 
     DSCHP   是我公司 推出的一款高壓DSC,用于測量在一定壓力下材料內部熱轉變相關的溫度、熱流的關系。 　　　

    應用范圍廣泛，應用于：氧化穩(wěn)定性、聚合物固化反應、相轉變、熔融、黏合劑的交聯(lián)、高壓氧化誘導期、模擬實際反應環(huán)境和特定氣氛下測量、測量與沸點有關的壓力等。

DSCHP   主要特點:
1.特殊的爐體結構，確保高壓下基線的穩(wěn)定性和重復性
2.防護系統(tǒng)，保障0-5MPa壓力范圍的性
3.儀器采用雙向控制（主機控制、軟件控制），界面友好，操作簡便


DSCHP技術參數(shù):
1. DSC量程:  0～±500mW
2. 溫度范圍: 室溫~600℃  
3. 壓力范圍: 0~5MPa    
4. 升溫速率: 1~60℃/min
5. 溫度分辨率: 0.1℃
6. 溫度波動: ±0.1℃
7. 溫度重復性: ±0.1℃
8. DSC噪聲: 0.01μW
9. DSC解析度: 0.01μW
10.DSC 度: 0.1μW
11.DSC靈敏度: 0.1μW
12.控溫方式: 升溫、恒溫（全自動程序控制）
13.曲線掃描: 升溫掃描
14.顯示方式: 24bit色，7寸 LCD觸摸屏顯示
15.數(shù)據(jù)接口: 標準USB接口
16.參數(shù)標準:   配有標準物質（錫），用戶可自行校正溫度和熱焓

泵吸式四氯乙烯檢測儀 便攜式四氯乙烯檢測儀 型號：HCX-C2Cl4

HCX-C2Cl4是一種內置微型采樣泵的便攜式氣體檢測儀儀器大屏幕液晶點陣顯示技術，中文操作界面方便的數(shù)據(jù)直讀功能，殼體采用阻燃ABS塑膠材料，干燥舒適，傳感檢測元件采用進口傳感器，檢測數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠。儀表廣泛使用于易燃易爆。需要防中毒，防窒息的檢測場所。   

產品特點   
● 內置大功率吸氣泵   
● 全自動碰撞和手動校準平臺   
● 簡單用戶界面，大屏幕中文界面操作   
● 充電電量顯示，低電位預警指示   
● 簡單的校準結果存儲，及其職能部門標定測試   
● 結構緊固，阻燃ABS塑膠精致而成   
● 簡單的操作，人體工學設計   
● 聲光、視覺和振動報警   
● 智能型的傳感器校驗   
● 結構堅固，維護簡單   

技數(shù)參數(shù)   
●尺寸： 176×64×32mm   
●重量：580g   
● 適用濕度：﹣20℃~+50℃｛﹣4℃F-122°F｝   
● 濕度：0-95%R·H零凝結性   
● 響應時間：T90<20s   
● 聲報：LED燈閃爍＞90分貝   
● 顯示：背光顯示   
● 電池：大容量可充鋰電池   
● 連續(xù)使用：＞8個小時   
● 充電時間：＜6個小時   
● 外殼：塑膠外殼   
● 防護等級： IP65   
●反應時間：｛T90｝：10秒   
● 認證：EX Ib IIB T3 GB   

產品名稱：電容電壓特性測試儀 電容電壓（C-V）特性測試儀 產品型號：KCV300

電容電壓特性測試儀  電容電壓（C-V）特性測試儀型號：KCV300

電容電壓特性測試儀產品簡介 
     CV法利用PN結或肖特基勢壘在反向偏壓時的電容特性，可以獲得材料中雜質濃度及其分布的信息，這類測量成為C-V測量技術。這種測量可以提供材料橫截面均勻性及縱向雜質濃度分布的信息。  
組成半導體器件的基本結構的PN結具有電容效應（勢壘電容），加正向偏壓時，PN結勢壘區(qū)變窄，勢壘電容變大；加反向偏壓是，PN結勢壘區(qū)變寬，勢壘電容變小。  
KCV-300電容電壓（C-V）特性測試儀是測試頻率為1MHz的數(shù)字式電容測試儀器，于測量半導體器件PN結的勢壘電容在不同偏壓下的電容量，也可測試其它電容。  
儀器有較高的分辨率，電容量是四位讀數(shù)，可分辨到0.001pF，偏置電壓分辨率為0.01V，漏電流分辨率為0.01μA。  
該測試儀器性能穩(wěn)定可靠，功能齊全，精度高，操作簡單，適用于元件生產，科研部門，高等院校等單位。  
電容電壓特性測試儀主要技術指標如下：  
測試信號頻率：1.000MHz±0.01%  
測試信號電壓：≤100mVrms  
電容測量范圍：0.001pF～10000 pF  
誤差：≤±3%  
直流偏壓：自帶偏壓0.01～45V，可外接偏壓源拓展；  
漏電流：0.1～199.9μA  
供電電源：AC220V 50Hz  
消耗功率：<40W 

產品名稱：高溫材料導熱系數(shù)測試儀 產品型號：DRX-Ⅱ-RW

高溫材料導熱系數(shù)測試儀 型號： DRX-Ⅱ-RW  
一：儀器概述  
該熱物性測試儀采用的瞬變熱流法及縱向熱流技術，具有方便、快捷、精確的特點，可用來測量各種不同類型材料的熱導率、熱擴散率以及熱熔，適用的熱導系數(shù)范圍0.015-100W/MK之間，適用樣品類型：固體、粉末材料。參照標準GB5598-85,GB3399-82,GB11205-89. 適應ASTM D5470，但它也使用熱結構-函數(shù)分析以使結果更精確，符合MIL-I-49456A，絕緣片材，導熱樹脂，熱導玻纖等。  
    該儀器可自動測試薄的導熱材料的熱阻抗與熱導率參數(shù)。這些材料一般在電子封裝業(yè)普遍使用，也可以測試一些軟的或硬的、半液體或粘性的材料。熱導率是描述材料熱傳導性能的重要參數(shù)。儀器通?？梢赃m應測定熱導率范圍從高到中等的材料，接觸壓力范圍在10-550psi（70-3800Kpa）手動加壓或液壓，樣品溫度范圍為常溫，也可到20—1200℃，后者需要定制裝置。 測試時，樣品被箝緊在兩個平行的導熱面之間（或者選擇懸浮式非平行面），一面是加熱面，一面是冷卻面，所有數(shù)據(jù)通過計算機測試軟件采集并分析輸出結果。  
二：主要技術參數(shù)  
1. 樣品尺寸：固體樣品要求在直徑15-50mm(定做60—100mm),厚度在10—15mm  
2. 導熱系數(shù)范圍：0.5-100w/MK，精度≤±3%,重復性≤±1%  
3．熱擴散率測量精度：5%  
4.比熱測量精度：7%（需配比熱測試模塊）  
5. 溫度范圍：常溫-1200攝氏度(精度±1攝氏度)   
6. 接觸壓力范圍：50-650kPa （手動）  
7. 接觸壓力精度：±3% （帶顯示裝置時）  
8. 樣品有效測量厚度：0-9mm   
9. 外接循環(huán)冷卻液   
10.配有完整的測試系統(tǒng)及軟件平臺。  
11.操作采用全自動熱分析測試軟件，快速準確對樣品進行試驗過程參數(shù)分析和報 告輸出。  
12．圖片僅參考，以出廠為準。  
   
儀器配置  
1、測試主機               一臺  
2、計算機（不帶打印機）     一套  
3、測試軟件               一套（光盤）  
4、說明書                 一份  
5、合格證                 一份  
6.恒溫水槽                一臺  
7.高溫爐                  一臺

產品名稱：激光光纖干涉綜合實驗儀 產品型號：OFKM-Ⅳ

激光光纖干涉綜合實驗儀型號：OFKM-Ⅳ

一、實驗目的 
       1、熟悉光纖馬赫-曾德爾及邁克爾遜干涉儀的工作原理，并通過自已搭建光路，掌握光路的調整方法。 
       2、掌握一種用激光干涉條紋測微小量變化的方法。 
       3、將光纖分別用在壓力、位移、溫度場內，觀察干涉條紋變化。 
二、儀器配置與技術參數(shù) 
      1、外接電源：220V，50Hz 
      2、溫度傳感： 
           1）、溫度范圍：室溫到高于室溫20℃左右 
           2）、靈敏度：MC干涉儀為10～20條/℃；MK干涉儀為10～20/℃   
      3、位移傳感（僅能用MC干涉儀作）： 
           1）、測量范圍：0到1.0mm 
           2）、靈敏度：1條/0.00065mm 
      4、壓力傳感： 
           1）、測量范圍：1大氣壓～2大氣壓 
           2）、靈敏度：MC干涉儀為200條左右/KPA；MK干涉儀為100條左右/KPA 
      5、光源和光纖： 
           1）、650nm激光器，出纖功率大于2mw。 
           2）、分路器：650nm單模2×2分路器，分束比1:1。 
           3）、650nm單模光纖尺寸：芯直徑小于4μm；包層直徑：125μm；保護層直徑：3mm 
      6、外形尺寸：600（長）×400（寬）×300（高） 
      7、重量：20Kg