艾思荔芯片高低溫測試設(shè)備(/熊)適用范圍:溫度循環(huán)(temperature cycling)應(yīng)力篩選是產(chǎn)品在設(shè)計(jì)強(qiáng)度極限下,運(yùn)用溫度加速技巧(在上、下限極值溫度內(nèi)進(jìn)行循環(huán)時,產(chǎn)品產(chǎn)生交替膨脹和收縮)改變外在環(huán)境應(yīng)力,使產(chǎn)品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變,透過加速應(yīng)力來使?jié)摯嬗诋a(chǎn)品的瑕疵浮現(xiàn)[潛在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵],以避免該產(chǎn)品于使用過程中,受到環(huán)境應(yīng)力的考驗(yàn)時而導(dǎo)致失效,造成不必要的損失,對于提高產(chǎn)品出貨良率與降低返修次數(shù)有顯著的效果,另外應(yīng)力篩本身是一種制程階段的過程,而不是一種可靠度試驗(yàn),所以應(yīng)力篩選是*對產(chǎn)品進(jìn)行的程序、
金屬等各行業(yè)。
芯片高低溫測試設(shè)備溫度范圍:www.lrcjy。。com
◆溫度范圍:-20~+150℃ -40~+150℃ -60~+150℃ -70~+150℃ 等不同的級別試驗(yàn)溫度要求。
◆溫度波動度:≤±0.5℃(可根據(jù)用戶需求提高至0.1℃)
◆溫度均勻度:≤±2℃(可根據(jù)用戶需求提高至0.5℃)
◆濕度范圍:30%~98%R.H(可按客戶要求定做)www.zjpct。。com
◆濕度誤差:≤+2%/-3%R.H
◆升溫時間:2-3℃/min(可根據(jù)用戶需求提高至10℃以上)
◆降溫時間:0.7-1℃/min(可根據(jù)用戶需求提高至10℃以上)
◆噪音:(dB)≤65
芯片高低溫測試設(shè)備特點(diǎn):www.lrcjsyx。。cn
1.箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型,造型美觀大方、新穎并采用無反作用把手,操作簡便。
2.箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口高級不銹鋼(SUS304)鏡面板或304B氬弧焊制作而成,箱體外膽采用 A3鋼板噴塑。
3.步入式高低溫交變試驗(yàn)室采用微電腦溫度濕度控制器,控溫控濕精確可靠。(日本OYO儀表)
4.設(shè)有大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮,且采用雙層玻璃,隨時清晰的觀測箱內(nèi)狀況。
5.恒溫恒濕箱*獨(dú)立限溫報警系統(tǒng),超過限制溫度即自動中斷,保證實(shí)驗(yàn)安全運(yùn)行不發(fā)生意外。
6.可選配記錄儀,打印機(jī)能打印記錄設(shè)定參數(shù)和掃描出溫濕度變化曲線,4~20mA標(biāo)準(zhǔn)信 號。
7.箱體左側(cè)配直徑50mm的測試孔。
芯片高低溫測試設(shè)備滿足標(biāo)準(zhǔn):www.lrcjsyx。。com
1、GB/T10586-1989濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
2、GB2423、3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗(yàn)Ca;
3、GJB150、9-8 濕熱試驗(yàn);
4、硅晶太陽能:IEC61215、UL1703、GB9535
5、薄膜太陽能:IEC61646 、GB18911
6、聚光太陽能:IEC62108 、IEEE1513
芯片高低溫測試設(shè)備用途:www.asli163。。cn
芯片高低溫測試設(shè)備又名高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱,能模擬各種環(huán)境狀態(tài)下,試驗(yàn)各種產(chǎn)品及原材料耐干、耐低溫、耐熱、耐潮濕的性能,高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱應(yīng)用行業(yè):芯片高低溫測試設(shè)備適用于電子、電器、造紙、食品、醫(yī)藥、印刷
鄭重承諾!:艾思荔芯片高低溫測試設(shè)備1年免費(fèi)保修,免費(fèi)送貨上門,免費(fèi)安裝調(diào)試及操作技術(shù)培訓(xùn)?!犊砂纯蛻粢罅可碛喼?,訂購:熊》
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