是利用X射線熒光進(jìn)行鍍層厚度測量和材料分析,提高過程和質(zhì)量控制,是集多年的經(jīng)驗,專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動軟件操作,可多點測試,由軟件控制儀器的測試點,以及移動平臺。同比其他牌子相同配置的機(jī)器,為您大大節(jié)省成本。只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。
測定元素:AL ~ U 。其光束和探測器的巧妙結(jié)合加上高級的數(shù)字處理技術(shù)能*地解決您的應(yīng)用。在準(zhǔn)確度和重現(xiàn)性上具有*的性能。