高級多功能超聲波測厚儀38DL PLUS
主要特性
• 可與雙晶和單晶探頭兼容。
• 寬泛的厚度范圍:0.08毫米~635毫米,根據(jù)材料和所選探頭而定。
• 使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。
• 穿透涂層和回波到回波測量功能,用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
• 內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項。
• 對于所有探頭,標準分辨率為0.01毫米。
• 使用頻率范圍為2.25 MHz~30 MHz的單晶探頭,高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量。
• 多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。
• 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
• 厚度、聲速和渡越時間測量。
• 差分模式和縮減率模式。
• 時基B掃描模式;每次掃查可獲得10000個可查讀數(shù)。
• 帶有數(shù)字式過濾器的Olympus高動態(tài)增益技術(shù)。
• 用于自定義V聲程補償?shù)?span lang="EN-US">V聲程創(chuàng)建功能。
• 設計符合EN15317標準。
這款測厚儀與其他測厚儀有何不同?
GageView™
• 基于Windows的GageView接口程序用于收集、創(chuàng)建、打印及管理來自38DL PLUS測厚儀的數(shù)據(jù)。
• 創(chuàng)建數(shù)據(jù)集和測量總結(jié)。
• 編輯所存數(shù)據(jù)。
• 顯示數(shù)據(jù)集和測量總結(jié)文件,文件包含厚度讀數(shù)、測厚儀設置值及探頭設置值。
• 從測厚儀上下載厚度測量總結(jié),或上傳厚度測量總結(jié)至測厚儀。
• 將測量總結(jié)導出到電子表格及其他程序。
• 收集捕獲的屏幕。
• 打印有關(guān)厚度、設置表格、統(tǒng)計及彩色柵格的報告。
• 升級操作軟件。
• 下載和上傳單晶和雙晶探頭設置文件。
• B掃描回顧
標準配置
標準雙晶探頭套裝盒
• 充電器/AC適配器(100 VAC、115 VAC、230 VAC)
• 內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器
• GageView接口程序
• 試塊和耦合劑
• USB線纜
• 橡膠保護套,帶有支架和頸掛帶
• 用戶手冊
• 兩年有限擔保
測量功能:穿透涂層、穿透漆層回波到回波、EMAT兼容、zui小值/zui大值模式、兩個報警模式、差分模式、B掃描、自動調(diào)用應用、溫度補償、平均值/zui小值模式