抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀
測(cè)量?jī)?nèi)容 | tgδ范圍 | 電容量范圍(Cx) | 試品類型 | 基本誤差 |
介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ | 0~1 | 50pF~60000pF | 非接地 | ±(1%讀數(shù)+0.0005) |
接地 | ±(1%讀數(shù)+0.0010) | |||
10pF~50pF或60000pF以上 | 非接地 | ±(1%讀數(shù)+0.0010) | ||
接地 | ±(2%讀數(shù)+0.0020) | |||
3pF~10pF | 非接地與接地 | |||
電容量 | 50pF以上 | ±(1%讀數(shù)+1pF) | ||
50pF以下 | ±(1%讀數(shù)+2pF) |
抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀簡(jiǎn)介:
● 具有多種測(cè)量方式,可選擇正/反接線、內(nèi)/外標(biāo)準(zhǔn)電容器和內(nèi)/外試驗(yàn)電壓進(jìn)行測(cè)量。正接線可測(cè)量高壓介損。